BPatG Urteil vom 27.07.2000 – 2 Ni 25/99 (EU)

BUNDESPATENTGERICHT

IM NAMEN DES VOLKES

Verkündet am 27. Juli 2000 …

In der Patentnichtigkeitssache

2 Ni 25/99 (EU)

(Aktenzeichen)

…

betreffend das europäische Patent 0 237 268 9.72

(DE 37 68 533)

hat der 2. Senat (Nichtigkeitssenat) des Bundespatentgerichts auf Grund der

mündlichen Verhandlung vom 27. Juli 2000 unter Mitwirkung des Richters

Gutermuth als Vorsitzenden, der Richter Dipl.-Ing. Dr. Meinel und Dipl.-Phys.

Dr. Gottschalk, der Richterin Püschel sowie des Richters Dipl.-Phys. Lokys

für Recht erkannt:

1. Das europäische Patent 0 237 268 wird mit Wirkung für das Hoheitsgebiet der Bundesrepublik Deutschland dadurch teilweise für

nichtig erklärt, daß seine Ansprüche folgende Fassung erhalten:

"1. Verfahren zur Massenanalyse einer Probe, bei dem ein

dreidimensionales Quadrupol-Fallenfeld definiert wird, in das

die Probe eingeführt und ionisiert wird, wodurch Ionen im

interessierenden Bereich gebildet und gleichzeitig eingefangen werden und bei dem das dreidimensionale Fallenfeld derart variiert wird, daß Ionen aufeinanderfolgender

spezifischer Massen sequentiell instabil werden, das Fallenfeld verlassen und derart erfaßt werden, daß eine Anzeige

der eingefangenen

Ionenmassen bereitgestellt wird,

dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der in der Ionenfallen-Population enthaltenen Probeionen kurz vor jedem

Scan automatisch durch Ionisieren der Probe für eine kurze

feste Zeitdauer, Messen der gesamten gebildeten Ionen,

Leeren der Ionenfalle, abermaliges Einführen der Probe in

die Ionenfalle und Steuern der Anzahl von Probeionen auf

der Basis der gemessenen gesamten gebildeten Ionen derart

gesteuert wird, daß die Sättigungs- und die Raumladungseffekte minimiert werden.

2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem die Probe dadurch ionisiert wird, daß ein ionisierender Strahl in das Fallenfeld projiziert wird, so daß die darin befindliche Probe ionisiert wird,

wourch Ionen gebildet und im Fallenfeld eingefangen werden, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der Probeionen gesteuert wird, indem der ionisierende Strahl so

gesteuert wird, daß die Anzahl der gebildeten Ionen gesteuert wird, so daß die Ionenfalle nicht gesättigt oder räumlich geladen wird.

3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß

der ionisierende Strahl durch Steuern seiner Dauer gesteuert

wird.

4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß

der ionisierende Strahl durch Steuern seiner Intensität gesteuert wird.

5. Verfahren nach Anspruch 2, 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß der ionisierende Strahl ein Elektronenstrahl

ist.

6. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 5, gekennzeichnet durch Messen des Ionengehalts der Ionenfalle vor Ausführen der Analyse und Verwenden der Messung zum Steuern des ionisierenden Strahles.

7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß

der Ionengehalt der Ionenfalle durch Ionisieren für eine kurze

vorbestimmte Zeit und Messen des gesamten Ionengehalts

gemessen wird."

2. Im übrigen wird die Klage abgewiesen.

3. Die Kosten des Rechtsstreits werden gegeneinander aufgehoben.

Die Beklagte ist eingetragene Inhaberin des mit Wirkung auch für die Bundesrepublik Deutschland erteilten europäischen Patents 0 237 268 (Streitpatent), das

am 5. März 1987 unter Inanspruchnahme der Priorität der US- Patentanmeldung

837 702 vom 7. März 1986 angemeldet worden ist. Das in der Verfahrenssprache

Englisch veröffentlichte Streitpatent, das vom Deutschen Patent- und Markenamt

unter der Nummer 37 68 533 geführt wird, betrifft ein Verfahren zur Massenanalyse einer Probe. Es umfaßt 8 Patentansprüche, von denen Patentanspruch 1 in

der deutschen Übersetzung gemäß Patentschrift folgenden Wortlaut hat:

"Verfahren zur Massenanalyse einer Probe, bei dem ein dreidimensionales Quadrupol-Fallenfeld definiert wird, in das die Probe

eingeführt und ionisiert wird, wodurch Ionen im interessierenden

Bereich gebildet und gleichzeitig eingefangen werden und bei dem

das dreidimensionale Fallenfeld derart variiert wird, daß Ionen

aufeinanderfolgender spezifischer Massen sequentiell

instabil

werden, das Fallenfeld verlassen und derart erfaßt werden, daß

eine Anzeige der eingefangenen Ionenmassen bereitgestellt wird,

dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der in der Ionenfallen-

Population enthaltenen Probeionen derart gesteuert wird, daß die

Sättigung und die Raumladung minimisiert werden."

Wegen der Patentansprüche 2 bis 8 wird auf die Patentschrift Bezug genommen.

Die Klägerin hat die Klage gegen die seinerzeit in die Rolle eingetragene F…n

Corporation erhoben. Nach Rechtshängigkeit der Klage ist das Streitpatent am

20. Dezember 1999 vom Deutschen Patent- und Markenamt in der Rolle umgeschrieben worden auf die F… Corp. (n. d. Ges. d. Staates D…). In

der mündlichen Verhandlung haben beide Parteien erklärt, sie seien sich einig,

daß die derzeitige Inhaberin des Streitpatents die Beklagte sei.

Mit ihrer Nichtigkeitsklage macht die Klägerin geltend, der Gegenstand des Streitpatents sei nicht patentfähig. Er sei nicht neu, beruhe aber jedenfalls nicht auf

einer erfinderischen Tätigkeit.

Sie beruft sich hierzu auf folgende vorveröffentlichte Druckschriften:

(1)

europäisches Patent 0 113 207 (Dokument G1/Anlage NK3) bzw dazugehörige Offenlegungsschrift 0 113 207 A2 (Anlage NK3a);

(2) P.H. Dawson "Radiofrequency Quadrupole Mass Spectrometers" in Advances in Electronics and Electron Physics Supplement 13B, 1980, S. 173 bis

256 (Dokument G5/Anlage NK7);

(3) P.H. Dawson, N.R. Whetten "Mass Spectroscopy Using RF Quadrupole

Fields" in Adv. in Electronics and Electron Physics, 27, 1969, S. 59 bis 185

(Dokument G6/Anlage NK8);

(4) S. Mastoris "The Three Dimensional Quadrupole Mass Spectrometer", in

UTIAS Technical Note 172, 1972, Seiten i bis v und 1 bis 15, Figuren 1 bis

15 (Dokument G7/Anlage NK9);

(5) M.C. Doran u.a. "Effects of Charge-Exchange Reactions on the Motion of

Ions in Three-Dimensional Quadrupole Electric Fields, Part III. A Two-Ion

Model", in International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics, 33,

1980, S. 139 bis 158 (Dokument G8/Anlage NK10);

(6)

"Quadrupole Mass Spectrometry and its Applications", herausgegeben von

P.H. Dawson, Elsevier Publishing Company, Amsterdam, 1976, S. 52, 53,

182, 183, 190, 191, 198, 199, 206, 207, 216, 217 (Dokument G9/Anlage

NK11);

(7) R.F. Wuerker u.a. "Electrodynamic Containment of Charged Particles" in

Journal of Applied Physics, Vol. 30, Nr. 3, 1959, S. 342 bis 349 (Dokument

G13/Anlage NK15);

(8)

"Lecture Notes in Chemistry", herausgegeben von G. Berthier u.a., Nr. 31,

H. Hartmann, K.-P. Wanczek "Ion Cyclotron Resonance Spectrometry II",

Springer-Verlag, Berlin Heidelberg New York, 1982, S. 474 bis 481

(Dokument G14/Anlage NK16);

(9) K.P. Wanczek "Ion Cyclotron Resonance Spectrometry - A Review" in International Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes, 60, 1984,

S. 11, 16, 17 (Dokument G15/Anlage NK17);

(10) US-Patent 4 535 235 (Dokument G16/Anlage NK18);

(11) J.B. Jeffries u.a. "Theory of Space-Charge Shift of Ion Cyclotron Resonance Frequencies" in International Journal of Mass Spectrometry and

Ion Processes, 54, 1983, S. 169 bis 187 (Dokument G17/Anlage NK19);

(12) T.J. Francl u.a. "Experimental Determination of the Effects of Space Charge

on Ion Cyclotron Resonance Frequencies" in International Journal of Mass

Spectrometry and Ion Processes, 54, 1983, S. 189 bis 199 (Dokument

G18/Anlage NK20);

(13) E.B. Ledford u.a. "Space Charge Effects in Fourier Transform Mass

Spectrometry. Mass Calibration" in Analytical Chemistry, Vol. 56, Nr. 14,

1984, S. 2744 bis 2748 (Dokument G19/Anlage NK21);

(14) US-Patent 3 742 212 (Anlage NK22);

(15) US-Patent 4 105 917 (Anlage NK23).

Darüber hinaus beruft sie sich darauf, daß in den Jahren 1963 bis 1974 Dr.

J… in den B…-Laboratorien (M… H… in N… J…, V.St.A.) Massenspektren von Wasserstoff-Ionen unter Verwendung von Quadrupol-Ionenfallen untersucht und dabei alle Merkmale des Verfahrens nach Patentanspruch 1 des

Streitpatents vorweggenommen habe. Zudem habe zwischen 1972 und 1975 Dr.

E… mit Dr. J… zusammengearbeitet und ein Verfahren praktiziert, wodurch das Verfahren nach Patentanspruch 1 des Streitpatents vorweggenommen oder jedenfalls nahegelegt worden sei. Zur Darlegung dieser offenkundigen Vorbenutzungen reicht sie folgende Unterlagen ein:

(16) Affidavit von Dr. Keith Jefferts vom 10. Mai 1999 (Dokument G2/Anlage

NK4);

(17) Erstentscheidung der Internationalen Handelskommission der Vereinigten

Staaten in Sachen "Bestimmte Ionenfallen-Masenspektrometer und Spektrometerkomponenten", Untersuchung Nr. 337-TA-393, in englischer Sprache (Dokument G3/Anlage NK5) sowie in deutscher Übersetzung (Dokument G4/Anlage NK6);

(18) Affidavit von Dr. Earl Ensberg vom 21. Mai 1999 (Dokument G10/Anlage

NK12)

und benennt als Zeugen die Herren Dr. J…, Dr. E…, Professor

Dr. K… und T….

Sie hält das Streitpatent auch in den von der Klägerin hilfsweise verteidigten Fassungen gegenüber dem druckschriftlichen Stand der Technik und gegenüber den

Vorbenutzungen für nicht patentfähig, sofern diese Fassungen nicht schon wegen

unzulässiger Erweiterung unzulässig seien. Insbesondere stelle auch der in den

Hilfsanträgen 4 bis 6 verwendete Ausdruck "kurz vor" keine korrekte Übersetzung

des in der erteilten englischen Fassung des Streitpatents verwendeten Ausdrucks

"just prior" dar, wofür sie Beweis eines Sprachsachverständigen anbietet.

Die Klägerin beantragt,

das europäische Patent 0 237 268 mit Wirkung für das Hoheitsgebiet der Bundesrepublik Deutschland für nichtig zu erklären.

Die Beklagte beantragt,

die Klage abzuweisen,

hilfsweise verteidigt sie ihr Patent in der Fassung der in der

mündlichen Verhandlung überreichten Hilfsanträge 1 bis 6.

Sie tritt dem Vorbringen der Klägerin in allen Punkten entgegen und hält das

Streitpatent für patentfähig. Sie bezieht sich ua auf folgende Druckschriften:

(19) K.B. Jefferts "Rotational Hfs Spectra of H2

+ Molecular Ions" in Physical Review Letters, Vol. 20, Nr. 2, 1968, S. 39 bis 41 (Anlage BK2);

(20) "Practical Aspects of Ion Trap Mass Spectrometry", Vol. I, Fundamentals of

Ion Trap Mass Spectrometry, herausgegeben von R.E. March, J.F.J. Todd,

1995, CRC Press, Inc., Boca Raton, S. 8 bis 13 (Anlage BK4).

Wegen des Vorbringens der Parteien im einzelnen und ihrer weiter eingereichten

Unterlagen wird auf den Akteninhalt Bezug genommen.

Die Klage, mit der der in Art. II § 6 Abs. 1 Nr. 1 IntPatÜG, Art. 138 Abs. 1 lit a EPÜ

iVm Art. 54 Abs. 1, 2 und Art. 56 EPÜ vorgesehene Nichtigkeitsgrund der mangelnden Patentfähigkeit geltend gemacht wird, ist nur zum Teil begründet. Denn

das Streitpatent in der erteilten und in der nach den Hilfsanträgen 1 bis 5 verteidigten Fassung hat keinen Bestand, wohingegen es in der nach Hilfsantrag 6

verteidigten Fassung patentfähig ist.

I.

Gemäß §§ 99 Abs. 1 PatG, 265 Abs. 2 Satz 2 ZPO ist die F… Corp. (n. d.

Ges. d. Staates D…) als Rechtsnachfolgerin der ursprünglich in der Rolle

eingetragenen Patentinhaberin F… Corporation zulässigerweise als Beklagte

in das vorliegende Verfahren eingetreten; die in der mündlichen Verhandlung

insoweit zu Protokoll gegebene Erklärung ist (auch) als Zustimmung der Klägerin

zu verstehen.

II.

Das Streitpatent betrifft (vgl. o.g. Beschreibungseinleitung Seite 3, Absatz 1) ein

Verfahren zur Massenanalyse einer Probe, bei dem ein dreidimensionales

Quadrupol-Fallenfeld definiert wird, in das die Probe eingeführt und ionisiert wird,

wodurch Ionen im interessierenden Bereich gebildet und gleichzeitig eingefangen

werden, und bei dem das dreidimensionale Fallenfeld derart variiert wird, daß

Ionen aufeinanderfolgender spezifischer Massen sequentiell instabil werden, das

Fallenfeld verlassen und derart erfaßt werden, daß eine Anzeige der eingefangenen Ionenmassen bereitgestellt wird.

Nach den Angaben der Beklagten (z.B. Schriftsatz vom 29. November 1999, Seite

2, Absatz 3) wird im Oberbegriff des Anspruchs 1 gemäß Hauptantrag von einem

Verfahren zur Massenanalyse einer Probe ausgegangen, wie es beispielsweise

aus der US-Patentschrift 4 540 884 bekannt

ist (vgl. hierzu auch die

Streitpatentschrift, Seite 3, Zeilen 22 bis 29).

Das gattungsgemäße Verfahren ist auch aus der von der Klägerin (Anlage NK3a)

zum Stand der Technik genannten - der US-Patentschrift 4 540 884 entsprechenden - europäischen Offenlegungsschrift 0 113 207 bekannt (vgl. den Anspruch 1

und die Figuren 1 bis 4 nebst der dazugehörigen Beschreibung). Das Ionenfallen-

Massenspektrometer wird hierbei im Modus der "massen-selektiven Instabilität"

betrieben (mass selective instability; Seite 9, Satz 1). Bei dieser Betriebsweise

wird durch Anlegen einer Hochfrequenzspannung (RF, Radio Frequency) - gegebenenfalls iVm einer zusätzlichen Gleichspannung (DC, Direct Current) - an die

Ringelektrode (11) der Ionenfalle (10) ein dreidimensionales Quadrupol-Fallenfeld

gebildet (Anspruch 2 und Fig. 1 iVm Seite 6, Zeilen 8 bis 20), das bei entsprechender Einstellung seiner Parameter - d.h. der Amplitude (V) und/oder der Frequenz (w ) der Hochfrequenzspannung bzw. der Amplitude (U) der Gleichspannung - den gleichzeitigen Einschluß mehrerer Ionenarten unterschiedlicher

spezifischer Masse (Masse-Ladungs-Verhältnis) ermöglicht, wobei jeweils nur

solche Ionen eingeschlossen werden, deren Parameter a und q im stabilen Bereich des Stabilitätsdiagramms liegen (Seite 6, Zeile 21 bis Seite 8, Absatz 2 sowie Seite 13, letzter Absatz bis Seite 14, Absatz 1 zur Fig. 4). Durch sukzessive Änderung der Amplitude (V) und/oder der Frequenz (w ) der Hochfrequenzspannung bzw. der Amplitude (U) der Gleichspannung werden die eingeschlossenen

Ionen nacheinander in der Reihenfolge ihres Masse/Ladungs-Verhältnisses über

den rechten Rand des Stabilitätsdiagramms (q = 0,91) in den instabilen Bereich

verschoben, wobei sie die Ionenfalle (10) nacheinander verlassen und in einem

externen Ionen-Detektor (electron multiplier 24) erfaßt werden (Ansprüche 3 bis 5

iVm Seite 9, Absatz 1 sowie Seite 15, Absatz 1 bis Seite 16, Absatz 1 zu den

Figuren 1, 3 und 4).

Als nachteilig wird von der Beklagten angesehen, daß es bei dem bekannten

gattungsgemäßen Verfahren bei hohen Ionenkonzentrationen zu Sättigungs- und

Raumladungseffekten kommen kann, die das Auflösungsvermögen (mass resolution) und die Empfindlichkeit (sensitivity) des Verfahrens verringern und so zu

fehlerhaften Masse-Zuordnungen bei den Meßergebnissen führen (Streitpatentschrift, Seite 3, Zeilen 30 bis 33 iVm den Figuren 4 bis 6 nebst der dazugehörigen Beschreibung auf Seite 6, Zeilen 30 bis 40). Die sich aus den Ladungen der in der Ionenfalle befindlichen Ionen ergebende Raumladung erzeugt

nämlich ein zusätzliches elektrisches Feld, das sich dem Quadrupol-Feld der Ionenfalle überlagert und dieses deformiert, wobei dieser Effekt um so ausgeprägter

ist, je mehr Ionen sich in der Ionenfalle befinden, d.h. je stärker das von den Ionen

erzeugte elektrische Feld ist. Sättigungseffekte sind dabei daran erkennbar, daß

die Fläche der Meßsignalspitzen bei hohen Ionendichten nicht mehr proportional

mit der Anzahl der gemessenen Ionen zunimmt, was sich in den Figuren 4 bis 6

der Streitpatentschrift in der Abflachung der Kurvensteigung niederschlägt.

Dem Streitpatentgegenstand liegt vor diesem Hintergrund das technische Problem

zugrunde, ein gattungsgemäßes Verfahren zu schaffen, bei dem Raumladungs-

und Sättigungseffekte soweit vermieden sind, daß sich eine höhere Auflösung und

Empfindlichkeit in einem größeren Ionenkonzentrationsbereich ergibt (Seite 3,

Zeilen 41 bis 45 der Streitpatentschrift).

Zur Lösung dieses Problems schlägt das Streitpatent im Patentanspruch 1 nach

Hauptantrag ein Verfahren mit folgenden Merkmalen vor:

1.1. Verfahren zur Massenanalyse einer Probe,

1.2. bei dem ein dreidimensionales Quadrupol-Fallenfeld defi

niert wird,

1.3. die Probe in das dreidimensionale Quadrupol-Fallenfeld

eingeführt wird,

1.4. die Probe ionisiert wird,

1.5. wobei Ionen im interessierenden Bereich gebildet und

gleichzeitig eingefangen werden,

1.6. das dreidimensionale Fallenfeld derart variiert wird, daß Io

nen aufeinanderfolgender spezifischer Massen sequentiell

instabil werden und das Fallenfeld verlassen,

1.7. die das Fallenfeld verlassenden Ionen derart erfaßt werden,

daß eine Anzeige der eingefangenen Ionenmassen bereitgestellt wird,

1.8. wobei die Anzahl der in der Ionenfallen-Population enthalte

nen Probeionen gesteuert wird,

1.9. derart, daß die Sättigung und die Raumladung minimiert

werden.

Die vorstehenden Merkmale 1.8. und 1.9. sind nach den Angaben der Beklagten

dahingehend auszulegen, daß die Anzahl der in der Ionenfalle enthaltenen Ionen

derart gesteuert wird, daß die bekannten nachteiligen Effekte der Sättigung und

der Raumladung in der Ionenfalle minimiert werden (Schriftsatz vom 29. November 1999, Seite 2, letzter Absatz bis Seite 3, Absatz 1).

Falls die Ionen in der Ionenfalle durch Ionisierung neutraler Teilchen vermittels

eines

ionisierenden Strahls - beispielsweise eines Elektronenstrahls (Anspruch 5) - erzeugt werden (Anspruch 2), kann die Anzahl der in der Ionenfalle

enthaltenen Ionen durch die Dauer des ionisierenden Strahls (Anspruch 3) oder

durch dessen Intensität (Anspruch 4) gesteuert werden. Die Ausführungsbeispiele

(Figuren 7 bis 9) verdeutlichen, daß Sättigungs- und Raumladungseffekte

(Figuren 4 bis 6) durch geeignete Wahl der Ionisationszeit (Anspruch 3)

vermeidbar sind.

Der seitens der Beklagten (Schriftsatz vom 29. November 1999, Seite 3, Absatz 2

bis Seite 4, Absatz 1) vertretenen Auffassung, der Anspruch 1 nach Hauptantrag

lehre ausschließlich ein automatisches Regeln der Anzahl der Probeionen in der

Ionenfalle von Meßzyklus zu Meßzyklus, d.h. er impliziere nicht auch eine gelegentliche manuelle Einstellung der Ionenanzahl - beispielsweise durch die Ionisationszeit -, kann schon deshalb nicht beigetreten werden, weil der Patentanspruch 1 gemäß Hauptantrag dem Wortlaut nach sowohl eine automatische als

auch eine manuelle Einstellung der Anzahl der in der Ionenfalle enthaltenen Ionen

umfaßt. Zudem ist gemäß den zur Erläuterung der Ansprüche heranzuziehenden

Ausführungsbeispielen (Figuren 7 bis 9 mit dazugehöriger Beschreibung) die

Anzahl der in der Ionenfalle enthaltenen Ionen jeweils manuell eingestellt worden

"... the ionization times were manually set..." (vgl. Seite 6, Zeilen 41 bis 49 der

Streitpatentschrift).

Zur automatischen Steuerung der Ionisierungszeit ist gemäß der Beschreibung

("The ionization time can be automatically controlled" - vgl. Seite 6, Zeilen 50 bis

54) vorgesehen, daß die Probe kurz vor jedem Scan - d.h. vor jeder Variierung

des dreidimensionalen Fallenfeldes gemäß dem vorstehenden Merkmal 1.6. - für

eine kurze Zeitdauer ionisiert, der Gesamtgehalt der gebildeten Ionen gemessen

und auf der Basis des gemessenen Gesamtgehalts der Ionen sodann - beispielsweise durch entsprechende Auswahl der Ionisierungszeit - die Anzahl der

Probeionen für den Scan gesteuert wird. Ersichtlich handelt es sich hierbei um

eine Kombination zusammengehörender Merkmale. So werden durch die kurze

Ionisierung - von beispielsweise 100 Mikrosekunden - Sättigungseffekte bei der

Messung des Gesamtgehalts der Ionen vermieden. Andererseits wird dadurch,

daß die Messung des Ionen-Gesamtgehalts und die hierauf basierende Steuerung

der Anzahl der Probeionen für den Scan jeweils kurz vor jedem Scan ausgeführt

werden, sichergestellt, daß die auf der Basis des gemessenen Gesamtgehalts der

Ionen festgelegte Ionisierungszeit für den Scan selbst bei starken Schwankungen

der Teilchendichte - beispielsweise bei Gaschromatographen - bis zum Scan

aktuell bleibt, d.h. nicht aufgrund inzwischen erfolgter Teilchendichteänderungen

überholt ist. Bei der automatischen Steuerung wird mithin erst durch die

Gesamtkombination der vorstehenden Merkmale gewährleistet, daß jedem Scan

die richtige Ionisierungszeit zugeordnet wird. Die Zeitangabe "kurz vor jedem

Scan" bestimmt sich dabei - wie für den Fachmann ohne weiteres ersichtlich - aus

der Relation zur Dauer eines Scans, weshalb von einer seitens der Parteien

beantragten Beiziehung eines Sprachsachverständigen zur Auslegung der

entsprechenden englischsprachigen Formulierung "just prior to performing a scan"

(Seite 6, Zeilen 50 und 51 der Streitpatentschrift) abgesehen werden konnte. Denn

nicht die sprachliche Bestimmung der in der Patentschrift verwendeten Begriffe ist

entscheidend, sondern das Verständnis des unbefangenen Fachmanns (vgl. BGH

GRUR 1999, 909 - Spannschraube).

Da der Patentanspruch 1 nach Hauptantrag die Dauer und den zeitlichen Abstand

der Steuerung zum Scan indessen völlig offenläßt, kann der Beklagten auch nicht

dahingehend gefolgt werden, daß der zuständige Durchschnittsfachmann der hier

als ein mit der Anwendung und Fortentwicklung von Verfahren zur Massenanalyse

mittels Ionenfallen mit dreidimensionalem Quadrupolfeld befaßter berufserfahrener

Physiker mit Universitätsabschluß zu definieren ist den Patentanspruch 1 nach

Hauptantrag nur im Sinne einer automatischen Steuerung auslegen könne, weil

eine kurze Messung des Gesamtgehalts der Ionen kurz vor jedem Scan von Hand

nicht realisierbar sei. Der Patentanspruch 1 nach Hauptantrag umfaßt dem

Wortlaut nach vielmehr auch eine manuelle Steuerung, bei der zunächst die

Anzahl der in der Ionenfalle enthaltenen Probeionen von Hand reduziert wird, bis

keine Sättigungseffekte mehr auftreten, wobei der von Hand ausgelöste Scan

dann mit einer entsprechenden Anzahl von Probeionen in der Ionenfalle

durchgeführt wird. Der Patentanspruch 1 nach Hauptantrag schließt nämlich

Proben mit im wesentlichen gleichbleibender Teilchendichte nicht aus, bei denen

eine solche manuelle Steuerung ohne weiteres möglich ist.

III.

Der Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 1 enthält nach einer Merkmalsanalyse

folgende Merkmalsgruppen:

1.1. Verfahren zur Massenanalyse einer Probe,

1.2. bei dem ein dreidimensionales Quadrupol-Fallenfeld definiert

wird,

1.3. die Probe in das dreidimensionale Quadrupol-Fallenfeld

eingeführt wird,

1.4. die Probe ionisiert wird,

1.5. wobei Ionen im interessierenden Bereich gebildet und

gleichzeitig eingegangen werden,

1.6. das dreidimensionale Fallenfeld derart variiert wird, daß Io

nen aufeinanderfolgender spezifischer Massen sequentiell

instabil werden und das Fallenfeld verlassen,

1.7. die das Fallenfeld verlassenden Ionen derart erfaßt werden,

daß eine Anzeige der eingefangenen Ionenmassen bereitgestellt wird,

1.8'. wobei die Anzahl der in der Ionenfallen-Population enthalte

nen Probeionen für jeden Scan automatisch gesteuert wird,

1.9. derart, daß die Sättigung und die Raumladung minimiert

werden.

Mithin unterschiedet sich der Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 1 von demjenigen gemäß Hauptantrag lediglich durch das zusätzlich aufgenommene Merkmal

"für jeden Scan automatisch" in der Merkmalsgruppe 1.8'.

IV.

a) Der Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 2 weist nach einer Merkmalsanalyse

folgende Merkmalsgruppen auf:

1.1. Verfahren zur Massenanalyse einer Probe,

1.2. bei dem ein dreidimensionales Quadrupol-Fallenfeld definiert wird,

1.3. die Probe in das dreidimensionale Quadrupol-Fallenfeld eingeführt

wird,

1.4. die Probe ionisiert wird,

1.5. wobei Ionen im interessierenden Bereich gebildet und gleichzeitig

eingefangen werden,

1.6. das dreidimensionale Fallenfeld derart variiert wird, daß Ionen

aufeinanderfolgender spezifischer Massen sequentiell instabil

werden und das Fallenfeld verlassen,

1.7. die das Fallenfeld verlassenden Ionen derart erfaßt werden, daß

eine Anzeige der eingefangenen Ionenmassen bereitgestellt wird,

1.7.a. wobei die Probe dadurch ionisiert wird, daß ein ionisierender

Strahl in das Fallenfeld projiziert wird,

1.7.b. so daß die darin befindliche Probe ionisiert wird,

1.7.c. wodurch Ionen gebildet und im Fallenfeld eingefangen werden,

1.8'. wobei die Anzahl der in der Ionenfallen-Population enthaltenen

Probeionen für jeden Scan automatisch gesteuert wird,

1.8'.a. durch Messen des Ionengehalts der Ionenfalle vor Ausführung der

Analyse und

1.8'.b. Verwenden der Messung zum Steuern des ionisierenden Strahls,

1.9'. derart, daß die Sättigungs- und die Raumladungseffekte minimiert werden.

Damit unterscheidet sich der Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 2 vom Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 1 durch die zusätzlichen Merkmalsgruppen 1.7.a.

bis 1.7.c., 1.8'.a. und 1.8'.b.. Außerdem ist bei seiner Merkmalsgruppe 1.9'. der

Begriff "Sättigung und Raumladung" durch "Sättigungs- und Raumladungseffekte"

ersetzt worden.

b) Der nebengeordnete Patentanspruch 2 gemäß Hilfsantrag 2 umfaßt folgende

Merkmalsgruppen:

1.1. Verfahren zur Massenanalyse einer Probe,

1.2. bei dem ein dreidimensionales Quadrupol-Fallenfeld definiert wird,

1.3. die Probe in das dreidimensionale Quadrupol-Fallenfeld eingeführt

wird,

1.4. die Probe ionisiert wird,

1.5. wobei Ionen im interessierenden Bereich gebildet und gleichzeitig

eingefangen werden,

1.6. das dreidimensionale Fallenfeld derart variiert wird, daß Ionen

aufeinanderfolgender spezifischer Massen sequentiell instabil

werden und das Fallenfeld verlassen,

1.7. die das Fallenfeld verlassenden Ionen derart erfaßt werden, daß

eine Anzeige der eingefangenen Ionenmassen bereitgestellt wird,

1.8'. wobei die Anzahl der in der Ionenfallen-Population enthaltenen

Probeionen für jeden Scan automatisch gesteuert wird,

1.8'.a'. durch Ionisieren der Probe für eine kurze feste Zeitdauer,

1.8'.b'. Messen der gesamten gebildeten Ionen,

1.8'.c'. Leeren der Ionenfalle,

1.8'.d'. abermaliges Einführen der Probe in die Ionenfalle und

1.8'.e'. Steuern der Anzahl der Probeionen auf der Basis der gemessenen

gesamten gebildeten Ionen,

1.9'. derart, daß die Sättigungs- und die Raumladungseffekte minimiert

werden.

Vom Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 1 unterscheidet er sich durch die zusätzlichen Merkmalsgruppen 1.8'.a'. bis 1.8'.e'. sowie durch die Formulierung

"Sättigungs- und Raumladungseffekte" anstelle von "Sättigung und Raumladung"

in der Merkmalsgruppe 1.9'.

V.

Der Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 3 stimmt merkmalsmäßig mit dem Patentanspruch 2 gemäß Hilfsantrag 2 überein.

VI.

Der Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 4 ist gegenüber dem Patentanspruch 1

gemäß Hilfsantrag 1 dahingehend abgeändert, daß bei ihm in der Merkmalsgruppe 1.8'. an die Stelle des Merkmals "für jeden Scan automatisch" die Formulierung "kurz vor jedem Scan automatisch" getreten ist.

VII.

Bei den Patentansprüchen 1 bzw. 2 gemäß Hilfsantrag 5 ist gegenüber den Patentansprüchen 1 bzw. 2 gemäß Hilfsantrag 2 das Merkmal "für jeden Scan automatisch" gegen die Formulierung "kurz vor jedem Scan automatisch" in der

Merkmalsgruppe 1.8'. ausgetauscht worden.

VIII.

Der Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 6 unterscheidet sich vom Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 3 dadurch, daß bei ihm in der Merkmalsgruppe 1.8'.

die Formulierung "kurz vor jedem Scan automatisch" an die Stelle des Merkmals

"für jeden Scan automatisch" getreten ist.

IX.

Die Gegenstände sämtlicher Patentansprüche gemäß Hauptantrag sind nicht patentfähig.

1. Es kann unerörtert bleiben, ob der Patentanspruch 1 gemäß Hauptantrag durch

den nachgewiesenen Stand der Technik neuheitsschädlich getroffen ist, denn

seine Lehre beruht gegenüber dem Offenbarungsgehalt der europäischen Offenlegungsschrift 0 113 207 (Anlage NK3a) und der Druckschrift G8 (Anlage

Nr 10) jedenfalls nicht auf einer erfinderischen Tätigkeit des zuständigen Durchschnittsfachmanns.

Aus der europäischen Offenlegungsschrift 0 113 207 ist unbestritten ein gattungsgemäßes Verfahren mit den Merkmalsgruppen 1.1. bis 1.7. des Patentanspruchs 1 nach Hauptantrag bekannt. Der von der Klägerin vertretenen Auffassung, diese Druckschrift offenbare außerdem auch die Merkmalsgruppen 1.8. und

1.9. des Patentanspruchs 1 nach Hauptantrag, kann nicht beigetreten werden.

Denn soweit hier eine Elektronenlinse (gate electrode and lens 19) mit dazugehöriger Steuereinrichtung (filament lens controller 21) vorgesehen ist, mit deren

Hilfe der Elektronenstrahl wie gewünscht ein- und ausschaltbar ist (Fig. 1 iVm

Seite 9, letzter Absatz bis Seite 10, Absatz 1), besagt dies lediglich, daß der Elektronenstrahl während der Abfolge der einzelnen Verfahrensschritte jeweils zur

richtigen Zeit ein- und ausschaltbar ist (vgl. auch die Fig. 3 nebst der dazugehörigen Beschreibung auf Seite 14, Absatz 2 bis Seite 15, Absatz 1). Jedenfalls findet sich in dieser Druckschrift kein Hinweis darauf, daß durch das wunschgemäße

Ein- und Ausschalten des Elektronenstrahls die Anzahl der in der Ionenfallen-Population enthaltenen Probeionen gesteuert werden könnte, wie dies der Lehre der

Merkmalsgruppen 1.8. und 1.9. des Patentanspruchs 1 nach Hauptantrag in der

Ausprägung gemäß den Unteransprüchen 2, 3 und 5 entspricht.

Aus der sich mit Raumladungseffekten bei Quadrupol-Ionenfallen befassenden

Druckschrift G8 ist es andererseits jedoch bekannt, daß Raumladungen Verformungen des Stabilitätsdiagramms verursachen können, die bei normalerweise

stabil in der Ionenfalle eingefangenen Ionenarten zur Instabilität führen, wobei das

Ausmaß dieser Verformungen von der Ionendichte abhängt, die ihrerseits vom

Probendruck und von der Dauer des Ionisierungspulses abhängig ist (Seite 140,

vorletzte Zeile bis Seite 141, Zeile 4 sowie Seite 152, Zeile 5 bis Seite 153, Absatz

1). Der Hinweis, daß Raumladungseffekte durch die Ionendichte in der Ionenfalle

bedingt sind und daß für diese - bei gegebenem Probendruck - die Einschaltdauer

des Ionisierungsstrahls maßgeblich ist, impliziert für den Fachmann aber bereits

die Problemlösung, wonach Raumladungseffekte durch Steuerung der

Einschaltdauer des Ionisierungsstrahls minimierbar sind.

Bei sinngemäßer Anwendung dieser durch die Druckschrift G8 nahegelegten

Problemlösung bei dem bekannten gattungsgemäßen Verfahren zur Massenanalyse einer Probe nach der europäischen Offenlegungsschrift 0 113 207 gelangt

der Fachmann ohne erfinderisches Zutun bereits zum Gegenstand des Patentanspruchs 1 nach Hauptantrag in der Ausprägung gemäß den Unteransprüchen 2

und 3.

2. Die Gegenstände der auf den Patentanspruch 1 unmittelbar oder mittelbar zurückbezogenen Unteransprüche 2 bis 8 gemäß Hauptantrag sind ebenfalls nicht

patentfähig.

a) Wie sich aus den vorstehenden Ausführungen zum Patentanspruch 1 gemäß

Hauptantrag ergibt, sind die Ausführungsformen gemäß den Unteransprüchen 2

und 3 dem Fachmann auch bereits durch die europäische Offenlegungsschrift

0 113 207 und die Druckschrift G8 nahegelegt.

b) Der Unteranspruch 4 betrifft lediglich eine für den Fachmann auf der Hand liegende Alternative zum nichterfinderischen Gegenstand des Unteranspruchs 3.

Denn es gehört zum Grundwissen des Fachmanns, daß die Anzahl der in der Ionenfalle erzeugten Ionen nicht nur durch die Dauer des ionisierenden Strahls

(Anspruch 3), sondern ebenso durch dessen Intensität (Anspruch 4) steuerbar ist

(vgl. hierzu auch die Druckschrift G7, Anlage NK9, Seite 11, Absätze 2 bis 4 iVm

Seite 10, Absatz 1 und Seite 12, drittletzter Absatz).

c) Die Ausbildung des ionisierenden Strahls als Elektronenstrahl gemäß dem

Unteranspruch 5 ist auch bereits aus der gattungsbildenden europäischen Offenlegungsschrift 0 113 207 bekannt ("ionizing electron beam for ionizing the

sample molecules", Seite 9, Zeilen 27 bis 31 zur Fig. 1).

d) Der Unteranspruch 6 enthält ebenfalls nichts Patentbegründendes. Die durch

die europäische Offenlegungsschrift 0 113 207 und die Druckschrift G8 - wie

dargelegt - nahegelegte (manuelle) Steuerung der Ionendichte setzt nämlich

zwingend eine Messung der Ionendichte durch Ionisierung der Probe und Messung der gesamten gebildeten Ionen voraus. Daß dabei eine kurze Ionisierung

vorzusehen ist, ist dem Fachmann durch die Druckschrift G8 (Seite 140, vorletzte

Zeile bis Seite 141, Zeile 4) nahegelegt, aus der sich implizit ergibt, daß die Messung verfälschende Sättigungseffekte durch Ionisierungspulse kurzer Dauer

vermeidbar sind. Da durch die Messung der Ionendichte aber ein Teil der Probenteilchen verbraucht wird, d.h. die Probe nach der Messung der Ionendichte insoweit nicht mehr der ursprünglichen Probe entspricht, muß die Ionenfalle nach

der Messung der Ionendichte geleert werden und es muß für den Scan eine neue

Probe in die Ionenfalle eingeführt werden. Nach alledem kann die Steuerung der

Anzahl der Probeionen für den Scan dann aber nur auf der Basis der gemessenen

Ionendichte - d.h. der gesamten gemessenen Ionenanzahl - erfolgen (beispielsweise mittels einer Eichkurve, mit der jeder gemessenen Ionendichte eine

geeignete Elektronenstrahldauer zugeordnet wird).

e) Die Unteransprüche 7 bzw. 8 wiederholen nur die nichterfinderische Lehre des

Unteranspruchs 6 weniger vollständig und teilweise mit anderen Worten.

X.

Die auf eine automatische Steuerung der Anzahl der Probeionen in der Ionenfalle

beschränkten Patentansprüche gemäß den Hilfsanträgen 2 bis 5 sind mit Ausnahme des Patentanspruchs 2 gemäß Hilfsantrag 5 unzulässig erweitert. Sie können daher keine Grundlage für eine materielle Überprüfung der Patentfähigkeit

bilden.

Die automatische Steuerung der in der Ionenfallen-Population enthaltenen Probeionen ist - wie vorstehend dargelegt - in der Streitpatentschrift (Seite 6, vorletzter

Absatz) nämlich nur im Rahmen der Merkmalskombination offenbart, daß die

Probe kurz vor jedem Scan für eine kurze Zeitdauer ionisiert wird, daß der

Gesamtgehalt der gebildeten Ionen gemessen wird und daß auf der Basis des

gemessenen Gesamtgehalts der Ionen die Anzahl der in der Ionenfallen-Population enthaltenen Probeionen für den Scan - beispielsweise durch Vorgabe einer entsprechenden Ionisierungszeit - gesteuert wird.

1. Die Patentansprüche 1 gemäß den Hilfsanträgen 1 bzw. 4 sind insofern unzulässig erweitert, als bei ihnen die Merkmale der Merkmalskombination weggelassen worden sind, wonach die Probe jeweils für eine kurze Zeitdauer ionisiert, der

Gesamtgehalt der gebildeten Ionen gemessen und auf der Basis des gemessenen

Gesamtgehalts der Ionen die Anzahl der in der Ionenfallen-Population enthaltenen

Probeionen

für den Scan gesteuert wird. Beim Patentanspruch 1 gemäß

Hilfsantrag 1 fehlt zudem das Merkmal, wonach die automatische Steuerung der in

der Ionenfallen-Population enthaltenen Probeionen kurz vor jedem Scan erfolgt.

2. Die Patentansprüche 1 gemäß den Hilfsanträgen 2 bzw. 5 sind dadurch unzulässig erweitert, daß bei ihnen das Merkmal der Merkmalskombination weggelassen worden ist, wonach die Probe vor jedem Scan jeweils nur für eine kurze Zeit

ionisiert wird. Beim Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 2 fehlt zusätzlich das

Merkmal, wonach die automatische Steuerung der in der Ionenfallen-Population

enthaltenen Probeionen kurz vor jedem Scan erfolgt.

3. Beim Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 3 fehlt ebenfalls das Merkmal der

Merkmalskombination, wonach die automatische Steuerung der in der Ionenfallen-

Population enthaltenen Probeionen kurz vor jedem Scan erfolgt.

4. Die Unteransprüche gemäß den Hilfsanträgen 1 bis 5 sind insofern unzulässig

erweitert, als sie direkt oder indirekt auf die - wie dargelegt - unzulässig erweiterten Hauptansprüche zurückbezogen sind.

5. Der nebengeordnete Patentanspruch 2 gemäß Hilfsantrag 2 ist unzulässig erweitert, weil bei ihm das Merkmal der Merkmalskombination fehlt, wonach die automatische Steuerung der in der Ionenfallen-Population enthaltenen Probeionen

kurz vor jedem Scan erfolgt.

6. Der nebengeordnete Patentanspruch 2 gemäß Hilfsantrag 5 stimmt inhaltlich

mit dem Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 6 überein. Da zum Patentanspruch 2 gemäß Hilfsantrag 5 keine Unteransprüche vorliegen, auf den Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 6 aber Unteransprüche 2 bis 7 direkt oder indirekt

zurückbezogen sind, wird der Hilfsantrag 6 insoweit als im Sinne der Beklagten

vorrangig behandelt.

XI.

Die Patentansprüche gemäß Hilfsantrag 6 sind zulässig und deren Gegenstände

erweisen sich auch als patentfähig.

1.a) Der Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 6 ist zulässig, denn die zunächst

weiter gefaßte Lehre ist auf eine engere Lehre eingeschränkt und alle Anspruchsmerkmale sind aus der Streitpatentschrift als zur Erfindung gehörend offenbart herzuleiten (vgl. BGH GRUR 1990, 510, 511/512 Abschn

III.3c

- "Crackkatalysator I"; BGH GRUR 1991, 307, 308 - "Bodenwalze"). Er vereinigt in

sich die Merkmale der erteilten Patentansprüche 1 und 6 und umfaßt außerdem

sämtliche Merkmale der in der Beschreibung (Seite 6, vorletzter Absatz) im Zusammenhang mit der automatischen Steuerung offenbarten Merkmalskombination, wonach die Probe kurz vor jedem Scan jeweils für eine kurze Zeitdauer zu

ionisieren, der Gesamtgehalt der gebildeten Ionen zu messen und auf der Basis

des gemessenen Gesamtgehalts der Ionen die Anzahl der Probeionen für den

Scan - beispielsweise durch entsprechende Auswahl der Ionisierungszeit - zu

steuern ist. Daß für die kurzzeitige Ionisierung der Probe vor jedem Scan dabei

eine kurze feste Zeitdauer vorzusehen ist, ergibt sich aus dem Wortlaut des erteilten Patentanspruchs 6 in der - vorrangigen - englischsprachigen Fassung

("short fixed period of time").

Sämtliche Merkmale des Patentanspruchs 1 gemäß Hilfsantrag 6 sind auch in den

ursprünglichen Anmeldungsunterlagen offenbart.

b) Die Patentfähigkeit des Gegenstands des Patentanspruchs 1 gemäß Hilfsantrag 6 wird getragen von der speziellen automatischen Steuerung der in der Ionenfallen-Population enthaltenen Probeionen dahingehend, daß die Probe kurz

vor jedem Scan jeweils für eine kurze Zeitdauer ionisiert, der Gesamtgehalt der

gebildeten Ionen gemessen und auf der Basis des gemessenen Gesamtgehalts

der Ionen die Anzahl der Probeionen für den Scan gesteuert wird. Diese Art der

automatischen Steuerung ist dem Fachmann insofern nicht nahegelegt, als sich

von dem gesamten seitens der Klägerin entgegengehaltenen Stand der Technik

lediglich die mit den Affidavits G2 (Anlage NK 4) bzw. G10 (Anlage NK 12) geltend

gemachten offenkundigen Vorbenutzungen näher mit der Steuerung der Ionendichte in der Ionenfalle befassen, wobei diese jedoch lediglich manuelle

Steuerungen vorsehen, die den Fachmann zudem in eine andere Richtung führen,

weil sie zur Steuerung der Ionendichte in der Ionenfalle die Beobachtung

raumladungsbedingter Frequenzverschiebungen sowie deren Minimierung durch

Verringerung der Einschaltzeit und/oder des Stromes der Elektronenstrahlquelle

(electron gun) vorschlagen (Affidavit G2, Seite 1, Abschnitt 3., letzter Satz bzw.

Affidavit G 10, Seite 3, Abschnitt 7.).

Als Anzeichen für die erfinderische Qualität des automatischen Verfahrens nach

dem Patentanspruch 1 gemäß Hilfsantrag 6 spricht zudem das diesbezügliche Lob

der Fachwelt (vgl. das einschlägige Fachbuch gemäß Anlage BK 4, Abschnitt C.

"Automatic Gain Control", insbesondere Seite 11, Absatz 2, letzter Satz).

Bei der dargelegten Sachlage konnte auf eine Beweisaufnahme über die von der

Klägerin mit den Affidavits G2 bzw. G10 geltend gemachten offenkundigen Vorbenutzungen verzichtet werden, da diese - wie dargelegt - die Patentfähigkeit des

Gegenstands des Patentanspruchs 1 nach Hilfsantrag 6 auch dann nicht in Frage

stellen können, wenn davon ausgegangen wird, daß sie in der geschilderten Form

stattgefunden haben und für beliebige Dritte zugänglich waren, zumal die Klägerin

auch mit dem in der mündlichen Verhandlung überreichten Beweisantrag

jedenfalls nicht geltend gemacht hat, daß die Steuerung der Ionendichte durch

Herrn Dr. Ensberg automatisch kurz vor jedem Scan erfolgt sei, wie dies

wesentlicher Bestandteil der Lehre des Patentanspruchs 1 gemäß Hilfsantrag 6

ist.

2. Die auf den Patentanspruch 1 direkt oder indirekt zurückbezogenen Unteransprüche 2 bis 7 gemäß Hilfsantrag 6 sind zulässig, denn sie entsprechen inhaltlich

- in dieser Reihenfolge - den erteilten Unteransprüchen 2 bis 5 bzw. 7 und 8. Die

Patentfähigkeit ihrer Gegenstände wird von derjenigen des Gegenstands des

Hauptanspruchs mitgetragen.

XII.

Die Kostenentscheidung beruht auf § 84 Abs. 2 PatG iVm § 92 Abs. 1 ZPO. Das

Obsiegen und Unterliegen beider Parteien ist in etwa gleich zu bewerten. Von

einem Ausspruch über die vorläufige Vollstreckbarkeit hinsichtlich der Kosten hat

der Senat im Hinblick auf die Besonderheiten des Verfahrens vor dem Patentgericht (§ 99 Abs 1 PatG) - es geht lediglich um die hälftigen Gerichtskosten, mithin

im wesentlichen nur um die hälftige Klagegebühr - abgesehen.

Gutermuth

Dr. Meinel

Dr. Gottschalk

Püschel

Lokys

Na