Rechtsprechung / BPatG / 2026
BPatG Beschluss vom 23.03.2026 – 11 W (pat) 22/23
11. Senat · ECLI:DE:BPatG:2026:230326B11Wpat22.23.0
BUNDESPATENTGERICHT
11 W (pat) 22/23 _______________________
(Aktenzeichen)
…
B E S C H L U S S
In der Einspruchsbeschwerdesache
ECLI:DE:BPatG:2026:230326B11Wpat22.23.0
betreffend das deutsche Patent 10 2017 117 413
hat der 11. Senat (Technischer Beschwerdesenat) des Bundespatentgerichts am
23. März 2026 durch die Vorsitzende Richterin Dipl.-Phys. Univ. Dr. Otten-
Dünnweber sowie die Richter Dipl.-Ing. Brunn, Dr. Poeppel und Dr.-Ing. Huber
beschlossen:
Auf die Beschwerde der Einsprechenden wird der Beschluss der Patentabteilung 34 des Deutschen Patent- und Markenamts vom 17. März 2022
aufgehoben und das Patent widerrufen.
G r ü n d e
I.
1.
Auf die am 1. August 2017 beim Deutschen Patent- und Markenamt
eingereichte Patentanmeldung ist die Erteilung des Patents mit der Bezeichnung
„Verfahren zur optischen Messung der Einschweißtiefe“
am 28. November 2019 veröffentlicht worden.
Gegen das Patent hat die Einsprechende am 27. August 2020 Einspruch erhoben und
beantragt, das Patent im vollen Umfang zu widerrufen.
Die Einsprechende hat ihr Vorbringen auf folgende Dokumente gestützt:
E6 WO 2014 / 138 939 A1
E7 US 7 995 207 B2
E8
„ICI of Laser Materials Processing: Development, Diagnosis and
Control", Paul J.L. Webster et al.; SLPC 2014, 22. April 2014
E8a "Advance Program, updated March 6, 2014", SLPC 2014, The First
Smart Laser Processing Conference 2014, 22. —24. April 2014,
Yokohama, Japan
E9
"LaserDepth Real-Time Measurement System, LD-600 Application
Guide©", 2012-2013, www.laserdepth.com
E10 "Using Matlab for Curve Fitting in Junior Lab", vom 31. August 2004,
MIT Department of Physics,
http://web.mit.edu/8.13/matlab/DOCS/fitting-quickstart-OLD.pdf
Die Patentinhaberin hat ihr Patent mit der erteilten Fassung als Hauptantrag im vollen
Umfang und mit einem Hilfsantrag 0 beschränkt verteidigt. Die Patentabteilung 34 des
Deutschen Patent- und Markenamts hat dem Hilfsantrag 0 in der Anhörung vom
17. März 2022 mit Beschluss stattgegeben und das Patent beschränkt
aufrechterhalten.
Die Patentabteilung 34 begründete ihre Entscheidung damit, dass der Gegenstand des
erteilten Patentanspruchs 1 gemäß Hauptantrag gegenüber dem Stand der Technik
nach der E6 nicht neu sei. Der Gegenstand des Anspruchs 1 nach Hilfsantrag 0 wäre
hingegen dem relevanten Stand der Technik nicht zu entnehmen und dem Fachmann
somit auch nicht nahegelegt.
Gegen diesen am 12. April 2022 zugestellten Beschluss richtet sich die Beschwerde
der Einsprechenden vom 11. Mai 2022. Die Einsprechende vertritt die Auffassung, der
Anspruch 1 nach Hilfsantrag 0 sei unzulässig erweitert sowie für den Fachmann nicht
ausführbar. Weiterhin sei der Gegenstand des Anspruchs 1 nach Hilfsantrag 0
gegenüber der Offenbarung der E6 nicht neu bzw. würde nicht auf einer erfinderischen
Tätigkeit beruhen.
Die Einsprechende beantragt:
1. Das Patent DE 10 2017 117 413 B4 in vollem Umfang zu widerrufen.
2. Hilfsweise eine Anhörung anzuberaumen (§ 78 Nr. 1 PatG).
Die Patentinhaberin hat im Beschwerdeverfahren keine Anträge gestellt und sich zur
Sache nicht geäußert.
Der Senat hat den Parteien im Rahmen der Terminsladung vom 24. November 2025
die vorläufige Beurteilung des Senats mitgeteilt, wonach das Merkmal 1.4* entgegen
dem Vortrag der Einsprechenden zulässig und auch ausführbar sei, dieses Merkmal
jedoch entgegen den Ausführungen der Patentabteilung aus der Druckschrift E6,
insbesondere S. 38 – 40, „Working Example – Third and Fourth Experiment“, bekannt
wäre. Dementsprechend wäre der Beschwerde stattzugeben und das Patent in vollem
Umfang zu widerrufen. Darüber hinaus dürften auch die Gegenstände der von der
Patentinhaberin im Einspruchsverfahren vor der Patentabteilung eingereichten
Hilfsanträge 1 und 2 aus der Druckschrift E6 bekannt sein.
Daraufhin
hat
sich
die Patentinhaberin
und Beschwerdegegnerin
im
Beschwerdeverfahren erstmalig mit dem Schriftsatz vom 11. Dezember 2025 geäußert
und darin lediglich mitgeteilt, dass sie an der für den 12. Februar 2026 anberaumten
mündlichen Verhandlung nicht teilnimmt und dass auch keine weitere Eingabe
eingereicht wird.
Daraufhin hat der Senat am 5. Januar 2026 den Verhandlungstermin von Amts wegen
aufgehoben.
Die am Einspruchsverfahren vor dem DPMA als Einsprechende beteiligte I…
GmbH, in deren Namen Beschwerde eingelegt wurde, wurde im Laufe des
Beschwerdeverfahrens im Wege des Formwechsels in die I… GmbH & Co. KG
umgewandelt und deren Firma in I… P… GmbH & Co. KG geändert.
2.
Der Patentanspruch 1 nach Hilfsantrag 0 lautet in gegliederter Fassung
(entsprechend dem Beschluss der Patentabteilung, Änderung gegenüber der erteilten
Fassung in M1.4* markiert):
M1.1 Verfahren zur Messung der Einschweißtiefe beim Schweißen mittels
eines Arbeitslaserstrahls (36), bei dem
M1.2 ein Messlichtstrahl (28) eines Sensorsystems (10) in einen Bearbeitungsstrahlengang (30) des Arbeitslaserstrahls (36) in einem Laserbearbeitungskopf (26) eingekoppelt und von einer Fokussieroptik (42)
des Bearbeitungsstrahlengangs (30) in einen Messlichtfleck auf einer
Oberfläche eines Werkstücks (44) gebündelt oder fokussiert wird,
M1.3 der an der Oberfläche des Werkstücks (44) reflektierte Messlichtstrahl
(28) zu einer Mess- und Auswerteeinheit (12) des Sensorsystems (10)
zurückgeführt wird, um Information über den Abstand der Oberfläche des
Werkstücks (44) vom Laserbearbeitungskopf (26) zu erhalten,
M1.4* die Position des Messlichtflecks auf der Oberfläche des Werkstücks (44)
durch eine Ablenkeinheit (48) entlang von zwei sich schneidenden
linearen Abtastbahnen sowohl in Schweißrichtung als auch quer dazu
über die Dampfkapillare (54) geführt wird, um ein Oberflächenprofil des
Werkstücks im Bereich der Dampfkapillare (54) zu erhalten,
M1.5 die Position der Dampfkapillare (54) relativ zum Auftreffpunkt (56) des
Arbeitslaserstrahls (36) aus dem Oberflächenprofil des Werkstücks im
Bereich der Dampfkapillare (54) ermittelt wird, und
M1.6 der Messlichtfleck zur Messung der Einschweißtiefe bei der Laserbearbeitung in die ermittelte Position der Dampfkapillare (54)
bewegt wird.
Wegen weiterer Einzelheiten,
insbesondere zum Wortlaut der abhängigen
Patentansprüche 2 bis 9 nach Hilfsantrag 0, wird auf die Amts- und Gerichtsakten
verwiesen.
II.
1.
Die Beschwerde ist frist- und formgerecht eingereicht und im Übrigen zulässig.
Der Einspruch war ausreichend mit Gründen versehen und ebenfalls zulässig. Die
Umwandlung und Umfirmierung der Einsprechenden
I… GmbH,
in deren
Namen Beschwerde eingelegt wurde, im Laufe des Beschwerdeverfahrens zur I…
P… GmbH & Co. KG
lässt die
Identität des Rechtsträgers der
Beschwerdeführerin unberührt, so dass die I… P… GmbH & Co. KG als
Beschwerdeführerin zu führen und auch beschwerdeberechtigt ist.
Der Senat geht davon aus, dass die Patentinhaberin und Beschwerdegegnerin die
Zurückweisung der Beschwerde beantragt. Da die Patentinhaberin
im
Beschwerdeverfahren keine Anträge gestellt und sich in der Sache nicht geäußert hat,
fehlt es an Anhaltspunkten für eine hiervon abweichende Auslegung.
2.
Die Beschwerde der Einsprechenden ist in der Sache auch begründet, da sie
zur Aufhebung des Beschlusses der Patentabteilung 34 und zum Widerruf des Patents
führt.
a.
Das Streitpatent betrifft ein Verfahren zur optischen Messung der
Einschweißtiefe beim Schweißen mittels Laserstrahlen. Nach Angaben der
Streitpatentschrift ist aus dem Stand der Technik bekannt, zur optischen Messung der
Einschweißtiefe optische Sensoren zur Abstandsmessung einzusetzen, die nach dem
Prinzip der optischen Kurzkohärenz Interferometrie arbeiten, bei dem Messlicht in
einen Messlichtstrahl bzw. Messstrahl und einen Referenzlichtstrahl bzw.
Referenzstrahl aufgespaltet wird. Die aus einem Messarm und einem Referenzarm
zurückreflektierten Mess- und Referenzlichtstrahlen werden einander überlagert, um
aus den Wegunterschieden zwischen Mess- und Referenzarm die gewünschte
Abstandsinformation zu ermitteln (vgl. Absatz [0002] der Streitpatentschrift DE 10 2017
117 413 B4).
Entsprechend der Beschreibung des Streitpatents basieren bekannte technische
Lösungen zur genauen Positionierung eines optischen Messlichtstrahls beim
Laserschweißen auf kamerabasierten Verfahren zur Ermittlung der Messstrahlposition
relativ zum Arbeitslaserstrahl. Diese Verfahren würden auf einer indirekten Ermittlung
der Position des Messlichtstrahls auf der Werkstückoberfläche beruhen, die für die
Einschweißtiefenmessung benötigt wird. Die optimale Position des Messlichtstrahls
relativ zum Bearbeitungsstrahl für eine zuverlässige Einschweißtiefenmessung sei
jedoch von unterschiedlichen Prozessparametern abhängig und könne daher mit den
indirekten Verfahren zur Positionsermittlung nicht hinreichend genau bestimmt
werden. Dies gelte insbesondere für die Lagebestimmung der Dampfkapillare, also
des Keyholes, da es schwierig sei, mit bildgebenden Verfahren die genaue Lage des
Keyholes im Bearbeitungsbereich, also im Auftreffbereich des Arbeitslaserstrahls zu
erfassen (vgl. Streitpatent, Absätze [0004], [0005], [0009]).
Aus der DE 10 2016 109 909 A1 sei weiterhin eine Vorrichtung zur
Prozessüberwachung beim Laserschweißen und Lasertiefschweißen mit einer
optischen Abstandsmessvorrichtung bekannt, die eine Messlichtquelle zur Erzeugung
eines Messlichtstrahls, der auf eine Werkstückoberfläche zur Bildung eines
Messlichtflecks fokussiert wird und mit einer Prismen-Ablenkeinheit mit zumindest
einem Prisma aufweist. Das Prisma sei um eine quer zum Messlichtstrahl verlaufende
Achse drehbar gelagert und lenkt den Messlichtstrahl zur Positionierung des
Messlichtflecks auf der Werkstückoberfläche lateral ab (vgl. Absatz [0010] des
Streitpatents).
Davon ausgehend liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde (vgl. Absatz [0011]
Streitpatent), ein Verfahren zur optischen Messung der Einschweißtiefe
bereitzustellen, das eine genaue Positionierung des Messlichtstrahls auf die Position
des Keyholes und damit eine zuverlässige Messung der Einschweißtiefe bei der
Laserbearbeitung ermöglicht.
Als mit der Lösung dieser Aufgaben befasste Fachmann ist ein Diplom-Physiker oder
Diplom-Ingenieur der Fachrichtung Maschinenbau mit mehrjähriger Erfahrung in der
Konzeption
und
Entwicklung
von
optischen Messinstrumenten
für
Laserbearbeitungsmaschinen sowie deren Programmierung zur Implementierung
entsprechender Messverfahren anzusehen.
Einige der Merkmale bedürfen einer Auslegung:
Unter der Einschweißtiefe nach Merkmal M1.1 versteht der Fachmann die Tiefe der
Dampfkapillare, die sich im Auftreffbereich 56 des Arbeitslaserstrahls 36 auf dem
Werkstück 44 befindet (vgl. Figur 3 und Absatz [0027] des Streitpatents). Dabei
entspricht die Tiefe der Dampfkapillare bis auf einen Korrekturfaktor im Wesentlichen
der Tiefe des Schweißbads.
Das Merkmal M1.3 fordert lediglich, dass durch den an der Oberfläche des Werkstücks
reflektierten Messlichtstrahl, der zur Mess- und Auswerteeinheit des Sensorsystems
zurückgeführt wird, eine Information über den Abstand der Oberfläche des Werkstücks
vom Laserbearbeitungskopf erhalten wird. Dabei bleibt offen, ob es sich hierbei um
eine relative oder eine absolute Abstandsinformation handelt. Beide Varianten fallen
unter den Anspruch.
Nach Merkmal 1.4 des erteilten Patentanspruchs wird die Position des Messlichtflecks
auf der Oberfläche des Werkstücks sowohl in Schweißrichtung als auch quer dazu
über die Dampfkapillare geführt, um ein Oberflächenprofil des Werkstücks im Bereich
der Dampfkapillare zu erhalten. Durch die Ergänzung im Merkmal 1.4* wird dies
dahingehend präzisiert, dass die Position des Messlichtflecks durch eine Ablenkeinheit
entlang von zwei sich schneidenden linearen Abtastbahnen geführt wird.
Entsprechend den Ausführungen des Streitpatents in Absatz [0028] dient diese
Führung des Messlichtflecks dazu, für einen bestimmten Laserbearbeitungsprozess,
der durch seine Prozessparameter wie Vorschubgeschwindigkeit, Laserleistung,
Fokuslage des Arbeitslaserstrahls in z-Richtung, Material des Schweißguts und/oder
die Nahtgeometrie klassifiziert werden kann, die relative Lage der Dampfkapillare zum
Auftreffbereich des Arbeitslaserstrahls zu ermitteln. Dies geschieht
in einer
sogenannten Test- oder Messschweißfahrt, bei der mit Hilfe der Ablenkeinheit die
Position des Messlichtstrahls bzw. des dadurch erzeugten Messlichtflecks auf dem
Werkstück während des Schweißprozesses auf einer linearen Bahn sowohl in
Schweißrichtung als auch senkrecht dazu über die Dampfkapillare bzw. das Keyhole
bewegt wird. Entsprechend Absatz [0039] wird dabei die Position des tiefsten Punktes
der Dampfkapillare mithilfe von Abstandsdaten ermittelt, die entlang von zwei sich
schneidenden linearen Bahnen erhalten wurden.
Damit soll bei der nachfolgenden Bearbeitung von Werkstücken mit einem
Laserbearbeitungsprozess, der mit denselben Prozessparametern durchgeführt wird
wie die Messschweißfahrt, der Messlichtstrahl genau in das Keyhole bzw. die
Dampfkapillare gerichtet werden, um eine zuverlässige und genaue Messung der
Einschweißtiefe zu ermöglichen (Absatz [0034]).
Da sich bei der Messschweißfahrt der Laserbearbeitungskopf gegenüber dem
Werkstück in Schweißrichtung bewegt, ist für den Fachmann klar, dass mit der
Ermittlung der Abstandsdaten entlang von zwei sich schneidenden linearen Bahnen
ein vollständiges Oberflächenprofil des Werkstücks ermittelt werden kann, da bei
entsprechender Vorschubbewegung des Laserbearbeitungskopfes durch den
Messlichtstrahl immer neue lineare, quer zur Vorschubrichtung verlaufende Bahnen
abgetastet werden.
Das Merkmal 1.4* des Anspruchs 1 ist aber nicht darauf beschränkt, dass zwingend
eine Messschweißfahrt durchgeführt werden muss. Auch eine Messung während des
Bearbeitungsprozesses wird vom Umfang des Anspruchs 1 mitumfasst.
Entsprechend Merkmal M1.5 wird aus dem ermittelten Oberflächenprofil des
Werkstücks im Bereich der Dampfkapillare die Position der Dampfkapillare relativ zum
Auftreffpunkt des Arbeitslaserstrahls ermittelt und dementsprechend nach Merkmal
M1.6 der Messlichtfleck zur Messung der Einschweißtiefe bei der Laserbearbeitung in
die ermittelte Position der Dampfkapillare bewegt.
b.
Zulässigkeit des Patentanspruchs 1
Die Beschwerdeführerin vertritt die Auffassung, dass das Merkmal 1.4* eine
unzulässige Erweiterung darstelle, da sein Gegenstand für den Fachmann nicht
unmittelbar und eindeutig aus den Anmeldeunterlagen zu entnehmen sei. Der
Fachmann wisse, dass durch ein Führen der Position des Messlichtflecks auf der
Oberfläche des Werkstücks durch eine Ablenkeinheit entlang von zwei sich
schneidenden linearen Abtastbahnen sowohl in Schweißrichtung als auch quer dazu
über die Dampfkapillare ein Oberflächenprofil des Werkstücks im Bereich der
Dampfkapillare nicht zu erhalten sei, da die zwei linearen Bahnen nur marginal eine
Oberfläche des Werkstücks überdecken würden. Weiterhin sei fraglich, ob der
Fachmann dem Absatz [0037] unmittelbar und eindeutig entnehmen könne, dass die
Position des Messlichtflecks auf der Oberfläche des Werkstücks durch eine
Ablenkeinheit entlang von zwei sich schneidenden linearen Abtastbahnen sowohl in
Schweißrichtung als auch quer dazu über die Dampfkapillare geführt wird. Absatz
[0037] offenbare lediglich, dass die Position der Dampfkapillare mithilfe von (diskreten)
Abstandsdaten, die entlang von zwei sich schneidenden linearen Bahnen 60 und 62
erhalten wurden, ermittelt wird. Insoweit sei es zum Beispiel denkbar, dass das
Messlicht zwischen den Abtastpunkten ausgeschaltet und/oder zwischen den
Abtastpunkten nichtlinear geführt werde.
Das Merkmal 1.4* stelle auch eine unzulässige Zwischenverallgemeinerung dar, da
der Absatz
[0037] die zwei sich schneidenden Bahnen ausschließlich
im
Zusammenhang mit der Ermittlung der Position des
tiefsten Punktes der
Dampfkapillare nennt, die allerdings nicht Gegenstand von Anspruch 1 sei.
Der Senat vermag der Argumentation der Beschwerdeführerin nicht zu folgen.
Entsprechend der Auslegung des Anspruchs 1 erfolgt die Ermittlung der
Abstandsdaten entlang der beiden sich schneidenden Bahnen während einer
Messschweißfahrt, bei der sich der Laserbearbeitungskopf linear entlang der
Schweißrichtung gegenüber dem Werkstück bewegt. Der Fachmann kann daher dem
Streitpatent die Positionierung des Messlichtflecks auf der Oberfläche des Werkstücks
durch die Ablenkeinheit entlang von zwei sich schneidenden linearen Abtastbahnen
zweifellos entnehmen, so dass die Ergänzung entsprechend dem Merkmal 1.4* in den
Absätzen [0026], [0032] und [0037] der ursprünglich eingereichten Unterlagen
zweifellos offenbart wurde (hier Bezug nehmend auf die Offenlegungsschrift DE 10
2017 117 413 A1).
Das Merkmal 1.4* stellt auch keine Zwischenverallgemeinerung dar. Laut dem ersten
Satz von Absatz [0037] der ursprünglichen Unterlagen ist die Position der
Dampfkapillare 54 mit der Position des tiefsten Punktes der Dampfkapillare 54
gleichzusetzen (vgl. Offenlegungsschrift, erster Satz von Absatz [0037]: „Anstelle der
Ermittlung der Position der Dampfkapillare 54, also der Position des tiefsten Punktes
der Dampfkapillare 54 mithilfe von Abstandsdaten……“). Somit ist die Ermittlung der
Position des tiefsten Punktes der Dampfkapillare auch schon Gegenstand des
ursprünglich eingereichten Anspruchs 1.
c.
Ausführbarkeit des Patentanspruchs 1
Die Beschwerdeführerin vertritt weiterhin die Auffassung, das Merkmal 1.4* sei für den
Fachmann ferner nicht ausführbar, da entsprechend ihrer Ausführungen zur
Zulässigkeit des Anspruchs 1 ein Oberflächenprofil des Werkstücks nicht via
Abtastung entlang von zwei sich schneidenden linearen Bahnen erhalten werden
könne.
Auch dieser Auffassung vermag der Senat nicht zu folgen. Entsprechend den
Ausführungen zur Auslegung und zur Zulässigkeit des Anspruchs 1 ist die
Ausführbarkeit des Patentanspruchs 1 zweifellos gegeben.
d.
Patentfähigkeit des Patentanspruchs 1
Entgegen den Ausführungen der Patentabteilung beruht der Gegenstand des
Patentanspruchs 1 nach Hilfsantrag 0 ausgehend vom Stand der Technik der E6
jedenfalls nicht auf einer erfinderischen Tätigkeit.
aa) Die Beschwerdeführerin vertritt die Auffassung, dass neben den Merkmalen des
ursprünglich erteilten Patentanspruchs 1 auch das zusätzliche, dem Merkmal 1.4*
hinzugefügte Merkmal durch die E6 neuheitsschädlich vorweggenommen würde und
der Gegenstand des Anspruchs 1 nach Hilfsantrag 0
im Lichte der E6
(WO 2014 / 138 939 A1) nicht neu bzw. zumindest nicht erfinderisch sei.
Seitens der Patentinhaberin liegt zum Merkmal 1.4*, welches Bestandteil des erst in
der Einspruchsverhandlung eingereichten Hilfsantrags 0 ist, keine schriftliche
Stellungnahme vor.
Die Patentabteilung hat zutreffend ausgeführt, dass die E6 ein Verfahren zur Messung
der Einschweißtiefe beim Schweißen mittels eines Arbeitslaserstrahls offenbart (Fig.2,
Ansprüche 61 - 64, M1.1), bei dem ein Messlichtstrahl 20 eines Sensorsystems 21 in
einen Bearbeitungsstrahlengang
des Arbeitslaserstrahls
in
einem
Laserbearbeitungskopf 28 eingekoppelt und von einer Fokussieroptik 18 des
Bearbeitungsstrahlengangs in einen Messlichtfleck auf einer Oberfläche eines
Werkstücks gebündelt oder fokussiert wird (Fig. 2, M1.2). Weiterhin wird der an der
Oberfläche des Werkstücks 12, 14 reflektierte Messlichtstrahl 20 zu einer Mess- und
Auswerteeinheit des Sensorsystems 21 zurückgeführt, um Information über den
Abstand der Oberfläche des Werkstücks vom Laserbearbeitungskopf 28 zu erhalten
(S. 23, Z. 5 – 23, M1.3).
Die E6 offenbart auch, dass entsprechend dem Merkmal 1.4 des ursprünglich erteilten
Patentanspruchs 1 die Position des Messlichtflecks auf der Oberfläche des
Werkstücks 12, 14 sowohl in Schweißrichtung als auch quer dazu über die
Dampfkapillare 30 geführt wird, um ein Oberflächenprofil des Werkstücks 12, 14 im
Bereich der Dampfkapillare 30 zu erhalten (z.B. S. 9, Z. 3 – 6: „The imaging beams,
[…] used to measure, instantaneously and/or over a period of time, one or a
combination of two or more of keyhole length, width, […] surface shape“; S. 10, Z. 9 –
10: „Keyhole Surface Shape - The left and right side widths of the keyhole as measured
relative to the processing laser at various points along the length of the keyhole.“).
Ergänzend wird hierzu noch auf die Offenbarung Seite 40, Zeilen 1 bis 15 verwiesen.
Entsprechend Seite 10, Zeilen 1 bis 2 in Verbindung mit Seite 16, Absatz 3 offenbart
die E6 auch das Merkmal 1.5, wonach die Position der Dampfkapillare relativ zum
Auftreffpunkt des Arbeitslaserstrahls aus dem Oberflächenprofil des Werkstücks im
Bereich der Dampfkapillare ermittelt wird.
Nach der Beschreibung Seite 38, Zeilen 17 bis 23 wird der Auftreffpunkt des
Abbildungsstrahls (Messlichtfleck) so eingestellt, dass er dem Auftreffpunkt des
Bearbeitungsstrahls und damit der ermittelten Position der Dampfkapillare um etwa
25 – 75 µm nacheilt. Damit wird der Messlichtfleck entsprechend M1.6 in die ermittelte
Position der Dampfkapillare bewegt.
bb) Die Patentabteilung führt in ihrem Beschluss weiterhin aus, die E6 offenbare
zwar die Erfassung von zweidimensionalen Oberflächenstrukturen, wie z.B. ein
Oberflächenprofil (S. 10, Z. 9f: „Keyhole surface shape“), und zeige auch
entsprechende Messungen von längs und quer zu Schweißrichtung über die
Dampfkapillare 30 geführten Messlichtstrahlen 20 in den Fig. 11 und 12, welche in
zwei verschiedenen Ausführungsbeispielen beschrieben sind (S. 38, Z. 30 – S. 39, Z.
33: „Working Example –Third Experiment“ sowie S. 40, Z. 1 – 15: „Working Example
–Fourth Experiment“), jedoch sei nicht offenbart, dass diese Messungen entsprechend
dem Merkmal M1.4* dadurch erhalten würden, dass der Messlichtstrahl 20 so geführt
wurde, dass der korrespondierende Messlichtfleck auf der Oberfläche des Werkstücks
12, 14 „zwei sich schneidende lineare Bahnen“ beschreibt.
Die Beschwerdeführerin vertritt dagegen die Auffassung, dass auch das dem Merkmal
1.4* hinzugefügte Merkmal, wonach die Position des Messlichtflecks auf der
Oberfläche des Werkstücks durch eine Ablenkeinheit entlang von zwei sich
schneidenden linearen Abtastbahnen geführt wird, schon in der E6 neuheitsschädlich
vorweggenommen wird bzw. sich zumindest aus der E6 naheliegend ergibt.
Im Gegensatz zur Auffassung der Patentabteilung vermag der Senat diesbezüglich
dem Vortrag der Einsprechenden zu folgen.
Die E6 offenbart zweifellos Messungen längs und quer zur Arbeitsrichtung des Lasers
zum Vermessen der Länge und Breite eines Keyholes. In den Figuren 11 und 12 und
der zugehörigen Beschreibung der dritten und vierten Versuche der
Ausführungsbeispiele (E6, S. 38 - 40, „Working Example - Third and Fourth
Experiment“) wird die Vermessung der Dampfkapillare (Keyhole) entlang geradliniger
Bahnen bereits gezeigt. Für den Fachmann ergibt sich daraus zwingend, dass sich die
linearen Bahnen des Messlichtstrahls dabei schneiden müssen, damit die Länge und
die Breite eines Keyholes überhaupt bestimmt werden können. Mit einer quer zum
Laser verlaufenden Messbahn, die in Bewegungsrichtung vor oder hinter der
Messbahn verläuft, mit der die Länge des Keyholes bestimmt wird, kann die Breite des
gleichen Keyholes nicht bestimmt werden.
Entsprechend Seite 6, Zeilen 14 bis 30 kann das in der E6 offenbarte Messverfahren
sowohl mit einer Mehrzahl von Messstrahlen als auch nur mit einem Messstrahl
ausgeführt werden. Für den Fall der Messung mit nur einem Strahl, der bewegt wird
und dessen Winkel geändert wird („…one or more
beams that are moved and whose angles are
changed,….“) ergibt sich
für den Fachmann
zwangsläufig eine Messung, bei der die Position
des Messlichtflecks auf der Oberfläche des
Werkstücks durch eine Ablenkeinheit entlang von
zwei sich schneidenden linearen Abtastbahnen
sowohl in Schweißrichtung als auch quer dazu
über das Keyhole bzw. die Dampfkapillare geführt
wird.
Damit wird das Merkmal 1.4* für den Fachmann in der E6 implizit offenbart oder
zumindest nahegelegt.
Der Gegenstand des Anspruchs 1 nach Hilfsantrag 0 geht daher für den Fachmann
aus der E6 zumindest in naheliegender Weise hervor.
Infolgedessen war das Patent im vollen Umfang zu widerrufen.
III.
Rechtsmittelbelehrung
Gegen diesen Beschluss steht den am Beschwerdeverfahren Beteiligten das
Rechtsmittel der Rechtsbeschwerde zu. Da der Senat die Rechtsbeschwerde nicht
zugelassen hat, ist sie nur statthaft, wenn gerügt wird, dass
1. das beschließende Gericht nicht vorschriftsmäßig besetzt war,
2. bei dem Beschluss ein Richter mitgewirkt hat, der von der Ausübung des
Richteramtes kraft Gesetzes ausgeschlossen oder wegen Besorgnis der
Befangenheit mit Erfolg abgelehnt war,
3. einem Beteiligten das rechtliche Gehör versagt war,
4. ein Beteiligter im Verfahren nicht nach Vorschrift des Gesetzes vertreten war,
sofern er nicht der Führung des Verfahrens ausdrücklich oder stillschweigend
zugestimmt hat,
5. der Beschluss aufgrund einer mündlichen Verhandlung ergangen ist, bei der
die Vorschriften über die Öffentlichkeit des Verfahrens verletzt worden sind,
oder
6. der Beschluss nicht mit Gründen versehen ist.
Die Rechtsbeschwerde ist innerhalb eines Monats nach Zustellung des Beschlusses
beim Bundesgerichtshof, Herrenstr. 45 a, 76133 Karlsruhe, durch eine beim
Bundesgerichtshof zugelassene Rechtsanwältin als Bevollmächtigte oder einen beim
Bundesgerichtshof zugelassenen Rechtsanwalt als Bevollmächtigten einzulegen.
Otten-Dünnweber
Brunn
Poeppel
Huber