Rechtsprechung / BPatG / 2026
BPatG Beschluss vom 15.04.2026 – 20 W (pat) 20/25
20. Senat · ECLI:DE:BPatG:2026:150426B20Wpat20.25.0
BUNDESPATENTGERICHT
_______________
(Aktenzeichen)
B E S C H L U S S
In der Beschwerdesache
betreffend die Patentanmeldung 10 2018 210 802.1
…
hat der 20. Senat (Technischer Beschwerdesenat) auf die mündliche Verhandlung
vom 15.04.2026 durch den Vizepräsidenten Dipl.-Ing. Musiol als Vorsitzenden, die
Richterin Dorn sowie die Richter Dipl.-Geophys. Dr. Wollny und Dr.-Ing. Ball
beschlossen:
ECLI:DE:BPatG:2026:150426B20Wpat20.25.0
Der Beschluss der Prüfungsstelle für Klasse G01N des Deutschen Patent- und
Markenamts vom 25.02.2025 wird aufgehoben und das Patent 10 2018 210 802
wie folgt erteilt:
Anmeldetag:
29.06.2018
Bezeichnung:
Verfahren zum Korrigieren von Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest eines
Durchstrahlungsbildes und Computertomograph
Patentansprüche:
Patentansprüche 1 bis 9 vom 18.07.2025, beim BPatG als Hauptantrag
eingegangen am selben Tag
Beschreibung:
Beschreibungsseiten 1 bis 17 vom 18.07.2025, beim BPatG zum Hauptantrag
eingegangen am selben Tag
Zeichnungen:
Figuren 1, 2, 3a und 3b vom Anmeldetag (29.06.2018).
G r ü n d e
I.
Die am 29.06.2018 eingereichte Patentanmeldung 10 2018 210 802.1 mit der
Bezeichnung
„Verfahren zum Korrigieren von Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest eines
Durchstrahlungsbildes und Computertomograph“
ist von der Prüfungsstelle für Klasse G01N des Deutschen Patent- und
Markenamts (DPMA) mit am Ende der Anhörung vom 25.02.2025 verkündetem
Beschluss zurückgewiesen worden.
Zur Begründung
ist ausgeführt, dass der Gegenstand des
jeweiligen
Patentanspruchs 1 sowohl gemäß dem damals geltenden Hauptantrag als auch
gemäß den Hilfsanträgen 1 bis 4 gegenüber dem von der Prüfungsstelle
ermittelten Stand der Technik,
insbesondere der Lehre der Druckschrift
KETCHAM & HANNA (2014) (D1), nicht neu sei.
Im Rahmen der Anmeldung und des Prüfungsverfahrens wurden insgesamt fünf
Druckschriften genannt:
D1
KETCHAM, R. A.; HANNA, R. D.: Beam hardening correction for X-ray
computed tomography of heterogeneous natural materials. In: Computers &
Geosciences (2014). 49 – 61.
D2
ABDURAHMAN, S. [et al.]: Calibration free Beam Hardening Correction
using Grangeat based Consistency Measure. In: Proceedings of the IEEE
Nuclear Science Symposium Medical Imaging Conference and Room-
Temperature Semiconductor Detector Workshop, Strasbourg, 2016. 3 S.
D3
KINGSTON; A. M. [et al.]: X-ray beam hardening correction by minimizing
reprojection distance. In: Proceedings of SPIE 8506 (2012). S. 85061D-1 –
85061D-10.
D4 US 7,203,267 B2
D5 DE 10 2005 018 660 A1
Gegen den o. g. Beschluss richtet sich die am 10.04.2025 eingelegte Beschwerde
der Anmelderin.
Der Bevollmächtigte der Anmelderin beantragt zuletzt,
den Beschluss der Prüfungsstelle für Klasse G01N des Deutschen Patent- und
Markenamts vom 25.02.2025 aufzuheben und das nachgesuchte Patent auf der
Grundlage folgender Unterlagen zu erteilen:
Patentansprüche:
Patentansprüche 1 bis 9 vom 18.07.2025, beim BPatG als Hauptantrag
eingegangen am selben Tag
Beschreibung:
Beschreibungsseiten 1 bis 17 vom 18.07.2025, beim BPatG zum
Hauptantrag eingegangen am selben Tag
Zeichnungen:
Figuren 1, 2, 3a und 3b vom Anmeldetag (29.06.2018).
Der geltende Patentanspruch 1 lautet wie folgt:
Wegen des Wortlauts der auf Patentanspruch 1 direkt oder
indirekt
rückbezogenen Patentansprüche 2 bis 8 und des nebengeordneten
Patentanspruchs 9 sowie weiterer Einzelheiten wird auf den Akteninhalt
verwiesen.
II.
Die zulässige Beschwerde ist begründet mit der Folge, dass das nachgesuchte
Patent – unter gleichzeitiger Aufhebung des angefochtenen Beschlusses – auf der
Grundlage der nunmehr geltenden Unterlagen zu erteilen war. Denn der
Gegenstand des geltenden Patentanspruchs 1, an dessen Zulässigkeit keine
Zweifel bestehen, erweist sich gegenüber dem im Verfahren befindlichen Stand
der Technik als neu und auch auf einer erfinderischen Tätigkeit beruhend, so dass
Patentierungsvoraussetzungen sind erfüllt.
1.
Die Anmeldung betrifft laut Seite 1, Absatz 1 der Ursprungsunterlagen
(UU) ein Verfahren zum Korrigieren von Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest
eines Durchstrahlungsbildes und einen zugehörigen Computertomographen (CT).
Insbesondere betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Korrigieren von
Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest eines Durchstrahlungsbildes, das durch
Bestrahlen eines Objektes mit polychromatischer invasiver Strahlung und durch
Detektieren von geschwächter, durch das Objekt hindurch gestrahlter Strahlung
erhalten wird oder wurde, wobei zum Korrigieren Korrekturfunktionen verwendet
werden.
In der Computertomographie mit polychromatischen Röntgenquellen
trete
Strahlaufhärtung auf, da der niederenergetische Teil des Röntgenspektrums beim
Durchtritt durch ein Messobjekt eine stärkere Abschwächung erfahre als der
höherenergetische Teil. Dies
führe zu Nichtlinearitäten
in den vom
Röntgendetektor erfassten Abschwächungen. Es existierten Verfahren, um diese
Nichtlinearitäten zu korrigieren. Hierbei kämen Korrekturfunktionen zum Einsatz,
welche für eine Linearisierung von erfassten Abschwächungswerten in den
Durchstrahlungsbildern sorgten. Einige würden als Korrekturfunktion eine
Polynomfunktion verwenden, mittels der erfasste Abschwächungswerte linearisiert
würden (UU, S. 1, Abs. 2 bis 4).
Schreibe man die Rekonstruktion als mathematische Operation v = R-1(a), wobei v
das
rekonstruierte Volumen, R die Radontransformation und a die
Abschwächungen a = - log(I/I0) der vom Röntgendetektor erfassten Intensitäten I
im Verhältnis zur Ausgangsintensität der nicht abgeschwächten Röntgenstrahlung
I0 beschrieben, so sei ein rekonstruiertes Bild oder ein rekonstruiertes Volumen
des Messobjektes bei Verwendung einer Polynomfunktion durch
gegeben, in der
auch als Korrekturpolynom mit den Koeffizienten ci bezeichnet werde (UU, S. 1,
Abs. 5 bis S. 2, Abs. 1).
Neben der Strahlaufhärtung führe im Computertomographen auftretende Streustrahlung zu weiteren Nichtlinearitäten, die durch die Korrekturfunktion ebenfalls
korrigiert werden könnten. Sei die Korrekturfunktion ein Korrekturpolynom, so
seien die Koeffizienten ci des Korrekturpolynoms im Fall von auftretender
Streustrahlung stark abhängig vom Messobjekt und müssten im Allgemeinen für
jede Bauteilklasse, die vermessen werden solle, erneut bestimmt werden (UU, S.
2, Abs. 2 und 3).
Ein bekanntes Verfahren zur Linearisierung mittels eines Korrekturpolynoms
basiere auf der empirischen Bestimmung der Koeffizienten des Korrekturpolynoms
durch Minimierung der resultierenden Abweichungen zwischen dem mittels des
Korrekturpolynoms korrigierten rekonstruierten Bild und einer vorgegebenen
Zielfunktion für ein bekanntes Messobjekt. Das Verfahren sei hierbei prinzipiell
nicht auf Polynomfunktionen beschränkt, sondern lasse sich auch für andere Arten
von Funktionen (z. B. „Splinefunktionen“ oder Kombinationen verschiedener
Funktionen) durchführen (UU, S. 2, Abs. 4).
Ein Verfahren, das Korrekturpolynome verwende, sei aus der DE 10 2005 018 660
A1 bekannt. Zur Bestimmung der Zielfunktion werde hierbei ein Schwellenwert für
die materialabhängige Strahlungsabschwächung festgelegt, der beispielsweise
Luft und Material voneinander unterscheidet. Dies seien beispielsweise Werte, die
für die durch die Materialien hervorgerufene materialabhängige Strahlabschwächung erwartet würden. Ein wesentlicher Nachteil des Verfahrens sei
jedoch, dass die empirisch bestimmten Koeffizienten des Korrekturpolynoms im
Allgemeinen vom gewählten Schwellenwert abhingen. Dies könne dazu führen,
dass Verfahren zur Oberflächenbestimmung unterschiedliche Positionen lieferten
und so systematische Fehler bei der dimensionellen Messtechnik zur Folge
hätten, die einen Nutzereinfluss (über die Wahl des Schwellenwerts) zeigten. Aus
der US 7 203 267 B2 sei ein Verfahren bekannt, bei dem Computertomographie
zur Metrologie verwendet werde. Das Verfahren sei hierbei speziell auf eine
Bestimmung von Oberflächen ausgelegt (UU, S. 2, Abs. 5 bis S. 3, Abs. 1).
Als Aufgabe der Anmeldung ist in den Ursprungsunterlagen Seite 2, Absatz 3
genannt, ein Verfahren zum Korrigieren von Nichtlinearitäten von Bilddaten
zumindest eines Durchstrahlungsbildes und einen zugehörigen Computertomographen zu schaffen, bei denen Nichtlinearitäten verbessert korrigiert werden
könnten.
2.
Der geltende Patentanspruch 1 vom 18.07.2025
lässt sich
(mit
hervorgehobenen Änderungen gegenüber dem Prüfungsverfahren und ohne
Angabe der Bezugszeichen) wie folgt gliedern:
M1.1 Verfahren zum Korrigieren von Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest
eines Durchstrahlungsbildes, das durch Bestrahlen eines Objektes mit
polychromatischer
invasiver Strahlung und durch Detektieren von
geschwächter, durch das Objekt hindurch gestrahlter Strahlung erhalten
wird oder wurde,
M1.2 wobei zum Korrigieren eine von mehreren Korrekturfunktionen verwendet
wird,
M1.3 die jeweils durch den Parameterwert zumindest eines Korrekturparameters
bestimmt sind,
M1.4 wobei zur Ermittlung des Parameterwertes oder der Parameterwerte der
zum
Korrigieren
zu
verwendenden
Korrekturfunktion
ein
Ermittlungsverfahren angewendet wird, das durch den Parameterwert eines
Ermittlungsparameters
oder
die
Parameterwert-Sätze mehrerer
Ermittlungsparameter bestimmt ist, und wobei das Verfahren ferner
folgende Maßnahmen umfasst:
M1.4.1
a) Erzeugen oder Empfangen einer Mehrzahl von Parameterwerten
des Ermittlungsparameters oder einer Mehrzahl von Parameterwert-
Sätzen der mehreren Ermittlungsparameter
M1.4.2
b)
für
jeden der Mehrzahl
von Parameterwerten des
Ermittlungsparameters oder jeden der Mehrzahl von Parameterwert-
Sätzen der mehreren Ermittlungsparameter: Bestimmen von einer
der Korrekturfunktionen,
M1.4.3
c) Bestimmen
von Unterschieden
zwischen mittels
der
Korrekturfunktionen korrigierten Durchstrahlungsbildern oder
korrigierten
rekonstruierten Volumina des Messobjektes oder
Bestimmen
der
Unterschiede
durch
Vergleich
der
Korrekturfunktionen,
M1.4.4
d) Minimieren der Unterschiede durch Variieren einer Art mindestens
einer der Korrekturfunktionen und/oder durch Variieren des
Ermittlungsverfahrens und durch Wiederholen des Bestimmens der
Korrekturfunktionen gemäß Maßnahme b) und des Bestimmens von
Unterschieden gemäß Maßnahme c),
M1.4.5
e) Ausgeben von
Information, die zumindest eine der durch
Maßnahme d) erhaltenen Korrekturfunktionen als die zum
Korrigieren zu verwendende Korrekturfunktion eindeutig beschreibt.
3.
Der gegenüber den Ursprungsunterlagen in Merkmal 1.4.3 ergänzte
geltende Patentanspruch 1 ist zulässig, da die vorgenommene Änderung,
ursprungsoffenbart ist (vgl. UU, S. 3, Abs. 4).
4.
Die Patentanmeldung richtet sich ihrem technischen Sachgehalt nach an
einen Physiker mit Universitätsabschluss (Diplom, Master), der über mehrere
Jahre Berufserfahrung in der theoretischen Konzeption, baulichen Entwicklung
und praktischen Umsetzung von CT-Verfahren aller Art verfügt.
5.
Dieser Fachmann versteht den Sachgehalt des Patentanspruchs 1 wie
folgt:
Mit Merkmal M1.1 wird der Einsatzbereich des Verfahrens festgelegt und zwar
dergestalt, dass dieses zur Korrektur von Nichtlinearitäten von Bilddaten
zumindest eines Durchstrahlungsbildes dient, das mittels eines CTs gewonnen
wurde (UU, bspw. S. 1, Abs. 1). Als Voraussetzungen für die Bildaufnahme wird
angemerkt, dass ein Untersuchungsobjekt dafür mit „polychromatischer invasiver
Strahlung“ (also breitbandiger Röntgenstrahlung im Falle des CT) durchstrahlt und
ein – durch hier nicht weiter benannte Effekte – geschwächtes Strahlungssignal
mittels eines im Merkmal nicht genannten Empfängers detektiert/aufgezeichnet
wird oder wurde.
Merkmal M1.2 fordert, dass „zum Korrigieren“ eine von mehreren (möglichen, aber
hier nicht dezidiert genannten) Korrekturfunktionen genutzt wird. Die ursprüngliche
Beschreibung führt als Beispiele etwa „Korrekturpolynome“ (UU, S. 2, Abs. 3 und
4) und „Splines“ (UU, S. 8, Abs. 3) an.
Gemäß Merkmal M1.3 sind diese Korrekturfunktionen durch einen Parameterwert
zumindest eines Korrekturparameters bestimmt. Das heißt, dass die Korrekturfunktionen (zumeist mehrere) einzelne Korrekturparameter beinhalten, deren
Werte jeweils die Korrekturfunktion (mit-)bestimmen. Im Rahmen eines Polynoms
als Korrekturfunktion („Korrekturpolynom“) wären dann als (Parameter-)Werte
gemäß der ursprünglichen Beschreibung die Zahlenwerte der Koeffizienten des
dortigen Polynoms anzusehen (vgl. UU, S. 1 bzw. 2, Summenanteil im
Formelausdruck).
Gemäß Merkmal M1.4 sind diese eben genannten Parameterwerte (im Beispiel
von M1.3 also die Koeffizienten) einzeln auf eine festgelegte Art zu ermitteln, die
hier als „Ermittlungsverfahren“ bezeichnet wird, wobei das Ermittlungsverfahren
durch den Parameterwert eines so genannten „Ermittlungsparameters“ oder die
„Parameterwert-Sätze“ mehrerer (einzelner) Ermittlungsparameter bestimmt ist.
Damit ist eine Art zweigeteilte Annäherung an eine Korrekturfunktion verbunden:
Zuerst müssen Parameterwert/-sätze einzelner Ermittlungsparameter geeignet
bestimmt/vorgegeben werden, bevor aus diesen einzelne
(Korrektur-)
Parameterwerte für eine Korrekturfunktion entwickelt werden können.
Wie diese zu bestimmen sind, wird in den weiteren fünf Merkmalen der Merkmalsgruppe M1.4 beschrieben, welche die Kernaussagen der Anmeldung darstellen.
Zur Veranschaulichung der mit diesen Merkmalen verbundenen Verfahrensschritte
sei auf die untenstehende (respektive auf der Seite 12 eingefügte), einen
Datenverarbeitungsverlauf darstellende Skizze des Senats verwiesen, die in der
mündlichen Verhandlung erörtert wurde und von einem einfachen möglichen
Spezialfall ausgeht. Dieser kann entsprechend für komplexere Vorgehensweisen
verallgemeinert werden, ohne die Sachaussage des Patentanspruchs 1 bzw. der
vorliegenden Anmeldung zu verlassen. Im für die Skizze gewählten Beispiel wird
zu Beginn des Verfahrens ein Tripel von Parameterwerten (dort „Parameter 1“ bis
„3“) zur Bestimmung jeweils einer dem jeweiligen Parameterwert zugeordneten
Korrekturfunktion („Korrekturfunktion 1“ bis „3“) als Ausgangskonstrukt zugrunde
gelegt. Dieses wird dann gemäß Anspruchswortlaut fortentwickelt. Im Rahmen der
folgenden Auslegung wird zur Erläuterung des jeweiligen Sachgehaltes der sich
anschließenden, wesentlich weiter gefassten Merkmale immer wieder auf dieses
Beispiel Bezug genommen, um die
teils sehr allgemein gehaltenen
Merkmalsformulierungen
in
ihrer Wirkung
auf
den
beanspruchten
Verfahrensablauf zu beschreiben und damit festzulegen.
M1.4.1 bzw. a): Mit diesem Merkmal ist beansprucht, dass im Verfahren
zunächst eine Mehrzahl von Parameterwerten/-sätzen eines oder mehrerer
Ermittlungsparameter „erzeugt“ oder „empfangen“ werden soll.
Bezogen auf das Beispiel in der Skizze repräsentiert diese Formulierung
dessen erste „Zeile“, die drei Parameter (1 bis 3) als Ausgangslinie der
Bestimmung einer
finalen Korrekturfunktion
im Rahmen eines
letztlich
insgesamt als Iteration aufzufassenden Verfahrensablaufs zeigt.
M1.4.2 bzw. b): Mit diesem Merkmal ist beansprucht, dass im Verfahren als
nächster Schritt
für
jeden der Mehrzahl von Parameterwerten des
Ermittlungsparameters oder für jeden der Mehrzahl von Parameterwert-Sätzen
der mehreren Ermittlungsparameter jeweils eine Korrekturfunktion bestimmt
wird.
Skizze des Senats zu einer Ausgestaltung des Verfahrens
gemäß Patentanspruch 1
Bezogen auf das Beispiel in der Skizze repräsentiert diese Formulierung
dessen zweite „Zeile“, die für jeden der drei Parameter (1 bis 3) als nächsten
Verfahrensschritt die Bestimmung einer diesem
jeweils zugeordneten
Korrekturfunktion vorsieht (daraus ergibt sich eine spaltenartige Darstellung für
jeden einzelnen der drei einzelnen Parameterwerte), die auch auf einen
(zugeordneten) vorliegenden Bild- oder Volumendatensatz angewendet
werden kann bzw. soll.
M1.4.3 bzw. c): Mit diesem Merkmal werden insgesamt drei Alternativen
beansprucht, die implizit voraussetzen, dass mit den Maßnahmen b) gemäß
Merkmal M1.4.2 bereits bestimmte Korrekturfunktionen existieren bzw. diese
mit den CT-Messergebnissen - respektive dem Durchstrahlungsbild - geeignet
verknüpft worden sind, um damit eine Korrektur desselben durchzuführen. Im
Anschluss daran sollen
o Unterschiede zwischen den mit unterschiedlichen Korrekturfunktionen
korrigierten Durchstrahlungsbildern oder
o Unterschiede zwischen korrigierten rekonstruierten Volumina des
Messobjektes ermittelt werden oder
o Unterschiede bestimmt werden, die auf dem Vergleich der jeweils
bestimmten Korrekturfunktionen basieren.
Bezogen auf das Beispiel in der Skizze repräsentiert diese Formulierung
zunächst dessen dritte und vierte „Zeile“, die für jede der drei ermittelten
Korrekturfunktionen einen Vergleich ihrer selbst oder der Ergebnisse ihrer
Anwendung auf ein CT-Bild oder die entsprechende Volumeninformation des
zu untersuchenden Objektes mit den jeweils beiden anderen vorhandenen
vorsieht. D. h. letztlich wird ein Vergleich der Ergebnisse der in der Skizze als
„Spalten 1 bis 3“ (zugeordnet zu den ursprünglichen Parametern 1 bis 3)
bezeichneten Schritte des bisherigen Verfahrensablaufs, und zwar
Bild/Volumen/Korrekturfunktion 1 mit 2, 2 mit 3 und 3 mit 1 durchgeführt.
Daraus wird jeweils ein „Unterschied“ (vgl. „Zeile“ 5 in der Skizze) zwischen
den dergestalt erzielten Ergebnissen ermittelt. Die Verarbeitungsreihenfolge
und Verknüpfung der jeweils einem Vergleich unterzogenen Daten wird durch
die diese verbindenden durchgezogenen (1 mit 2), gestrichelten (2 mit 3) und
strich-punktierten (3 mit 1) Pfeile in der Skizze entsprechend hervorgehoben
(vgl. UU, S. 3, Abs. 4 bis S. 4, Abs. 2 i. V. m. S. 10, Abs. 7 bis S. 11, Abs. 2).
M1.4.4 bzw. d): Mit diesem Merkmal wird beansprucht, dass eine
Optimierungsprozedur durchgeführt wird, und zwar dergestalt, dass ein
Minimieren der Unterschiede (z. B. der korrigierten Durchstrahlungsbilder)
durch Variieren einer „Art“ (i. S. v. einem Typ, beispielsweise bei den
Polynomfunktionen deren Grad; vgl. UU, S. 8, Abs. 4) mindestens einer der
Korrekturfunktionen und/oder durch Variieren des Ermittlungsverfahrens und
durch Wiederholen des Bestimmens der Korrekturfunktionen gemäß
Maßnahme b) und des Bestimmens von Unterschieden gemäß der Maßnahme
c) erfolgt.
Bezogen auf das Beispiel in der Skizze repräsentiert diese Formulierung
zunächst die sich als Block darstellende sechste „Zeile“, die das Minimieren
der durch die drei vorangegangenen Vergleiche (1 mit 2, 2 mit 3, 3 mit 1)
bestimmten Differenzen („Unterschiede“) zum Ziel hat. Dem schließt sich –
sollte der ermittelte Unterschied jeweils qualitativ noch nicht überzeugen
können, weil er bspw. noch keinen vorgegebenen Schwellwert unterschreitet -
eine weitere iterative Prozedur an, welche die in den Merkmalen M1.4.1 bis
M1.4.3 beschriebenen Schritte erneut aufgreift und durchführt. Diese als
Schleifenoperation aufzufassende Maßnahme (vgl. UU, Fig. 1, Schritte 101 bis
106) wird dabei so lange durchgeführt („Zeilen“ 7 bis 11 der Skizze), bis die
Unterschiede z. B. den bereits oben genannten vorgegebenen Schwellwert
unterschreiten und es damit unerheblich wird, welche der so ermittelten
Korrekturfunktionen im weiteren Verlauf zur Korrektur der vorliegenden Daten
verwendet wird.
M1.4.5 bzw. e): Mit diesem Merkmal wird zum Abschluss der iterativen
Optimierung das Ausgeben von (Ergebnis-)Information beansprucht. Diese
Information soll dabei zumindest eine der durch Maßnahme d) – also die
Schleifenoperation - erhaltenen Korrekturfunktionen als die letztgültig zum
Korrigieren zu verwendende Korrekturfunktion eindeutig beschreiben („Zeile“
12 der Skizze und UU, Fig. 1, Schritt 107). Auf welche Art diese konkret
beschrieben werden soll, bleibt dabei aber offen.
6.
Der Gegenstand des geltenden Patentanspruchs 1 ist gegenüber dem
vorliegenden Stand der Technik neu (§ 3 PatG).
6.1 Als geeigneten Ausgangspunkt für Überlegungen des Fachmanns sieht der
Senat die Druckschrift KETCHAM & HANNA (2014) (D1) an.
Dieser wissenschaftliche Fachartikel zur rechnertechnischen Korrektur von
Strahlaufhärtungseffekten bei der Auswertung von mittels Computertomografie
aufgezeichneten Bilddaten stellt speziell auf die Untersuchung von heterogenen
natürlichen Materialien – wie etwa mineralogische Proben und Fossilien - ab. Es
wird letztlich ein empirisches, von einem Nutzer aktiv variiertes iteratives
Optimierungsverfahren vorgestellt, das zum Ziel hat, eine Linearisierungsfunktion
als Korrekturfunktion für Durchstrahlungsbilddaten der untersuchten Objekte
anzugeben.
Aus diesem Fachartikel sind die Merkmale M1.1 bis M1.4 bekannt:
M1.1 Verfahren zum Korrigieren von Nichtlinearitäten von Bilddaten zumindest
eines Durchstrahlungsbildes, das durch Bestrahlen eines Objektes mit
polychromatischer
invasiver Strahlung und durch Detektieren von
geschwächter, durch das Objekt hindurch gestrahlter Strahlung erhalten
wird oder wurde,
Titel + Abstract, insb.: „… method for correcting beam hardening artifacts in
polychromatic X-ray CT data. On most industrial CT systems, software
beam-hardening correction employs some variety of linearization, which
attempts
to
transform
the polychromatic attenuation data
into
its
monochromatic equivalent prior to image reconstruction. …“
M1.2 wobei zum Korrigieren eine von mehreren Korrekturfunktionen verwendet
wird,
Kap. 2.2, wobei die Korrekturfunktion letztlich eine kubische Splinefunktion
ist, insb.: „The beam hardening correction ultimately consists of a
conversion of the raw sinogram data. Each detector reading is cast as –
ln(I/I0), which can be considered as a polyenergetic ray sum p. … we use a
set of evenly-spaced points over the data range of the raw values, and
interpolate between them with a cubic spline to ensure a smooth solution.
…“
M1.3 die jeweils durch den Parameterwert zumindest eines Korrekturparameters
bestimmt sind,
Kap. 2.3 zeigt zumindest im Rahmen der einzelnen Stützstellen („anywhere
from 3 to 20“, „mj“) der kubischen Splinefunktion eine durch den Nutzer
bestimmbare Anzahl derselben und auf Basis der Gleichung (5) für einzelne
Stützstellen eine Angabe von Parameterwerten/Faktoren („cj“), die variiert
werden können.
M1.4 wobei zur Ermittlung des Parameterwertes oder der Parameterwerte der
zum
Korrigieren
zu
verwendenden
Korrekturfunktion
ein
Ermittlungsverfahren angewendet wird, das durch den Parameterwert eines
Ermittlungsparameters
oder
die
Parameterwert-Sätze mehrerer
Ermittlungsparameter bestimmt ist, und wobei das Verfahren ferner
folgende Maßnahmen umfasst:
Kap. 2.1 zeigt als einen Ansatzpunkt für Entwicklungsparameter/-sätze mit
nutzerseitig gewählten „regions of interest (ROI)“ und der „merit function“
insb.: „The merit function consists of statistics characterizing the CT
numbers in a series of regions of interest (ROIs) defined by the user in a
reconstructed CT image, as shown in the examples below. ROIs can be
specified by a graphical user interface as either rectangular or elliptical, or
as contours surrounding some part of the image. … The merit function is
then calculated as the relative variation (the standard deviation divided by
the mean) of CT numbers in these ROIs, either individually or in various
combinations. …“ i. V. m. Kap. 4 (S. 53, Sp. 1), insb. „We … refer to the
image data values generically at “CT numbers”, …“;
Jedoch sind die Merkmale M1.4.1 bis M1.4.5 nicht in ihrer beanspruchten
konsekutiven – und damit jeweils aufeinander aufbauenden - Weise aus dieser
Druckschrift zu entnehmen. Diese Schlussfolgerung ergibt sich insbesondere
daraus, dass die Lehre der Druckschrift D1 lediglich vorsieht, für jeden Durchlauf
zur Bestimmung einer einzigen Linearisierungsfunktion durch den Nutzer
aufbauend auf seiner Fachkenntnis bei der Interpretation von CT-Bilddaten für ihn
geeignete
„regions of
interest
(ROI)“ auszuwählen und diese der
Korrekturfunktionssuche zugrunde zu legen (vgl. D1, Kap. 2, 2.1 bis 2.3 i. V. m.
Fig. 2, 3H, 4F, 5I). Wird am Ende der Iteration kein Schwellwert bei der
Optimierung der Korrekturfunktion unterschritten (vgl. D1, Kap. 2.3), der als Maß
für die gute Qualität der ermittelten Korrekturfunktion gelten kann, wird dieser
Prozess abgebrochen und ein neuer mit neu gewählten ROI angestoßen. Dieser
Prozess wird solange wiederholt, bis auf Basis dieser empirischen ROI-Auswahl
durch den Nutzer eine einzige finale Korrekturfunktion bestimmt wird, die die
dortigen Schwellwertkriterien erfüllt. Damit steht dieses Vorgehen im Gegensatz
zum beanspruchten Gegenstand, nämlich eine auf mehreren unterschiedlichen
Ausgangsparametern aufbauende parallele Korrekturfunktionsermittlung multipler
Korrekturfunktionen durchzuführen, die insbesondere auf den ständigen Vergleich
aller Ergebnisse von Zwischenschritten und der Minimierung von deren
Unterschieden abzielt, wobei der Nutzer – außer zu Beginn bei der Auswahl der
Ausgangsparameter - selbst nicht mehr in den iterativen Prozess der Ermittlung
der finalen Korrekturfunktion(en) eingreifen muss.
Mit Bezug zur senatsseitig eingeführten, oben abgebildeten Skizze erschöpft sich
damit die mit der Druckschrift D1 verbundene Lehre in der Durchführung einer
alleinigen sequentiellen „Optimierung“ von Ergebnissen im Rahmen der „Spalte 1“
der Skizze, d. h. unter Benutzung und iterativer Optimierung von lediglich einer
einzigen Korrekturfunktion. Zu dieser iterativen Optimierung können durchaus
auch zwei gewählte „ROI“ unterschiedlichster Verortung ihren Beitrag (für eine
Zielfunktion) leisten. Sie treten jedoch verknüpft und nicht eigenständig als
separate Parameter – wie im Beispiel der Skizze als multiple „Spalten“ angelegt
und mit Patentanspruch 1 gefordert - in den dortigen anspruchsgemäßen
Verfahrensverlauf zur simultanen / parallelen Ermittlung von multiplen, jeweils
eigenständigen Korrekturfunktionen ein (vgl. beispielsweise D1, Fig. 3D und 3I „air
correction“; Fig. 5F und 5J „two materials“).
Damit ist der Gegenstand des Patentanspruchs 1 neu gegenüber der Lehre der
Druckschrift D1.
6.2 Die übrigen im Verfahren befindlichen Druckschriften D2 bis D5 liegen
gegenüber dem Gegenstand des Patentanspruchs 1 allesamt weiter ab und
können dessen Neuheit nicht in Frage stellen.
7.
Der Gegenstand des geltenden Patentanspruchs 1 beruht gegenüber dem
vorliegenden Stand der Technik auch auf einer erfinderischen Tätigkeit (§ 4 PatG).
Der Fachmann hat aus Sicht des Senats ausgehend von der Druckschrift D1
keinen Anlass, deren Lehre in Richtung auf den Gegenstand des geltenden
Patentanspruchs 1 weiterzuentwickeln. Es werden dort weder zu behebende
Defizite benannt, noch aufgrund der in der Praxis gegebenen rechnertechnischen
Möglichkeiten ggf. problemlos umsetzbare nutzerunabhängige Alternativen
nahegelegt, die
zu der beanspruchten mehrstufigen und parallelen
Korrekturfunktionsbestimmung mit
internen Quervergleichen und daraus
resultierenden Optimierungsprozeduren führen. Dort werden vielmehr – wie
bereits im Rahmen der Neuheitsbetrachtung ausgeführt - bei einem nicht
zufriedenstellenden Optimierungsprozess der dort gemäß D1 einzig vorhandenen
Korrekturfunktion die anfänglichen Ursprungsparameter („ROI“) durch den Nutzer
verworfen, im Anschluss ein weiterer – letztlich wieder unmittelbar von vorne
beginnender – Prozess wie der zuerst angeführte durchlaufen, nur mit neuen /
anderen Ursprungsparametern. Beschreibt man diese Vorgehensweise anhand
obiger Skizze, deckt die Lehre der Druckschrift D1 damit nur die erste „Spalte“ der
dortigen Maßnahmen ab (vgl. erneut obige Ausführungen zur Neuheit). Damit ist
ein Ablauf, wie ihn die zusätzlichen Spalten 2 und 3 im Verbund mit dem der
Spalte 1 fordern, weder verwirklicht noch für den Fachmann in beanspruchter
Weise angelegt.
Dies gilt auch unter Berücksichtigung der weiteren genannten Druckschriften des
Standes der Technik, die ein solches Vorgehen ebenso weder thematisieren noch
vergleichbare Vorgehensweisen zeigen, die den Fachmann entsprechend anleiten
könnten.
8.
Entsprechendes gilt für den im Wesentlichen merkmalsgleichen, auf einen
Computertomographen gerichteten nebengeordneten Patentanspruch 9.
9.
Die abhängigen Patentansprüche 2 bis 8, an deren Zulässigkeit jeweils
keine Zweifel bestehen, bilden den Gegenstand des Patentanspruchs 1, auf den
sie jeweils direkt oder indirekt rückbezogen sind, in nicht selbstverständlicher
Weise weiter aus und erweisen sich daher ebenfalls als patentfähig.
10.
Im Ergebnis war daher der Beschwerde der Anmelderin – unter
gleichzeitiger Aufhebung des angefochtenen Beschlusses – stattzugeben und das
nachgesuchte Patent im Umfang des zuletzt gestellten Antrags zu erteilen.
Rechtsmittelbelehrung
Gegen diesen Beschluss steht jedem am Beschwerdeverfahren Beteiligten, der durch diesen
Beschluss beschwert ist, die Rechtsbeschwerde zu (§ 99 Abs. 2, § 100 Abs. 1, § 101 Abs. 1 PatG).
Da der Senat in seinem Beschluss die Rechtsbeschwerde nicht zugelassen hat, ist sie nur
statthaft, wenn gerügt wird, dass
1.
2.
3.
4.
das beschließende Gericht nicht vorschriftsmäßig besetzt war,
bei dem Beschluss ein Richter mitgewirkt hat, der von der Ausübung des Richteramtes
kraft Gesetzes ausgeschlossen oder wegen Besorgnis der Befangenheit mit Erfolg
abgelehnt war,
einem Beteiligten das rechtliche Gehör versagt war,
ein Beteiligter im Verfahren nicht nach Vorschrift des Gesetzes vertreten war, sofern er
nicht der Führung des Verfahrens ausdrücklich oder stillschweigend zugestimmt hat,
5.
der Beschluss auf Grund einer mündlichen Verhandlung ergangen ist, bei der die
Vorschriften über die Öffentlichkeit des Verfahrens verletzt worden sind, oder
6.
der Beschluss nicht mit Gründen versehen ist
Die Rechtsbeschwerde ist von einer beim Bundesgerichtshof zugelassenen Rechtsanwältin oder
von einem beim Bundesgerichtshof zugelassenen Rechtsanwalt innerhalb eines Monats nach
Zustellung dieses Beschlusses beim Bundesgerichtshof, Herrenstraße 45 a, 76133 Karlsruhe,
einzulegen (§ 102 Abs.1, Abs. 5 Satz 1 PatG).
Musiol
Dorn
Dr. Wollny
Dr.-Ing. Ball
Bundespatentgericht
(Aktenzeichen)
Verkündet am
15. April 2026
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