Rechtsprechung / BPatG / 2008
BPatG Beschluss vom 08.01.2008 – 17 W (pat) 40/05
17. Senat
BUNDESPATENTGERICHT
_______________
(Aktenzeichen)
Verkündet am
8. Januar 2008
…
B E S C H L U S S
In der Beschwerdesache
betreffend die Patentanmeldung 196 55 034.3-55
…
hat der 17. Senat (Technischer Beschwerdesenat) des Bundespatentgerichts auf
die mündliche Verhandlung vom 8. Januar 2008 unter Mitwirkung des Vorsitzenden Richters Dipl.-Phys. Dr. Fritsch, des
Richters Dipl.-Ing. Prasch sowie der
Richterinnen Eder und Dipl.-Ing. Wickborn 08.05
beschlossen:
Auf die Beschwerde der Anmelderin wird der Beschluss der Prüfungsstelle für Klasse G 11 C des Deutschen Patent- und Markenamts vom 20. Dezember 2004 aufgehoben und die Sache zur weiteren Prüfung und Entscheidung an das Deutsche Patent- und
Markenamt zurückverwiesen.
Die Rückzahlung der Beschwerdegebühr wird angeordnet.
G r ü n d e :
I.
Die vorliegende Patentanmeldung, für die die Prioritäten von zwei Anmeldungen in
Japan JP 7-157377 vom 23. Juni 1995 und JP 7-309576 vom 28. November 1995
in Anspruch genommen werden, mit der Bezeichnung:
„Testvorrichtung einer Halbleitereinrichtung“
ist am 22. Mai 1996 als Ausscheidung aus der Anmeldung 196 20 666.9 beim
Deutschen Patent- und Markenamt eingereicht worden.
Sie wurde durch Beschluss der Prüfungsstelle für Klasse G 11 C des Deutschen
Patent- und Markenamts vom 20. Dezember 2004 mit der Begründung zurückgewiesen, es sei nicht klar angegeben, was mit dem Patentanspruch 1 als patentfähig unter Schutz gestellt werden solle (§ 34 Abs. 3 Satz 3 PatG).
Gegen diesen Beschluss ist die Beschwerde der Anmelderin gerichtet. Sie stellt
den Antrag,
den angegriffenen Beschluss aufzuheben und das nachgesuchte
Patent mit folgenden Unterlagen zu erteilen:
Patentansprüche 1-3 vom 9. Februar 2005, eingegangen am
10. Februar 2005,
Beschreibung Seiten 1, 2, 7-45 und 29 Blatt Zeichnungen mit
29 Figuren, jeweils vom 24. April 1998.
Sie regt die Rückzahlung der Beschwerdegebühr an.
Das geltende Patentbegehren (versehen mit einer denkbaren Gliederung) lautet:
„1. Testvorrichtung einer Halbleitereinrichtung,
a) die einen Oszillator (1) zum Erzeugen eines Taktsignals (Φ) und eine
Ausgabeschaltung (2 - 4) zum externen Ausgeben des von dem Oszillator (1) ausgegebenen Taktsignals (Φ) an einem Ausgabeanschluss (5) enthält, mit
b) einem Komparator (143), der das an dem Ausgabeanschluss (5) ausgegebene Taktsignal (Φ) empfängt und ein Signal mit einem ersten
Pegel (L) ausgibt, wenn der Pegel des Taktsignals (Φ) kleiner als ein
Referenzpegel (Vref) ist, während er ein Signal mit einem zweiten
Pegel (H) ausgibt, wenn der Pegel des Taktsignals (Φ) größer als der
Referenzpegel (Vref) ist,
c) einem Speicher (144), der das von dem Komparator (143) ausgegebene Signal aufeinanderfolgend speichert mit einer Periode, die kürzer
ist als die Periode des Taktsignals, und
d) einer Erfassungsschaltung (145), die das in dem Speicher (144)
gespeicherte Signal aufeinanderfolgend ausliest, die Änderungsposition erfasst, bei der sich das Leseergebnis von dem ersten Pegel (L)
zu dem zweiten Pegel (H) ändert, und die Periode des Taktsignals aus
der Anzahl der Abtastungen zwischen zwei Änderungspositionen
ermittelt.“
„2. Testvorrichtung einer Halbleitereinrichtung,
a) die einen Oszillator (1) zum Erzeugen eines Taktsignals (Φ) und eine
Ausgabeschaltung (2 - 4) zum externen Ausgeben des von dem Oszillator (1) ausgegebenen Taktsignals (Φ) an einem Ausgabeanschluss (5) enthält, mit
b) einer Steuerspannungerzeugungsschaltung (153), die das an dem
Ausgabeanschluss (5) ausgegebene Taktsignal (Φ) und ein internes
Taktsignal (Φ´) empfängt und eine Steuerspannung (Vco) ausgibt, die
der Phasendifferenz zwischen den beiden Taktsignalen (Φ, Φ’) entspricht,
c) einem spannungsgesteuerten Oszillator (154), der eine Mehrzahl von
variablen Verzögerungszeitelementen (71.1-71.K) enthält, die in einer
Ringform verbunden sind, wobei jedes die Steuerspannung (Vco)
empfängt, zum Ausgeben des internen Taktsignals (Φ’) und,
d) einer Erfassungsschaltung (155), die einen Betriebsparameters (Vco,
Ico) des spannungsgesteuerten Oszillators (154) erfasst und eine
Oszillationsfrequenz des Oszillators (1) basierend auf dem Betriebsparameter (Vco, Ico) ermittelt.“
„3. Testvorrichtung einer Halbleitereinrichtung,
a) die einen Oszillator (1) zum Erzeugen eines Taktsignals (Φ) und eine
Ausgabeschaltung (2 - 4) zum externen Ausgeben des von dem Oszillator (1) ausgegebenen Taktsignals (Φ) an einem Ausgabeanschluss (5) enthält, mit
b) einer Steuerspannungerzeugungsschaltung (163), die das an dem
Ausgabeanschluss (5) ausgegebene Taktsignal (Φ) und ein internes
Taktsignal (Φ’) empfängt und eine Steuerspannung (Vco) ausgibt, die
der Phasendifferenz zwischen den Taktsignalen (Φ, Φ’) entspricht,
c) einer spannungsgesteuerten Verzögerungsschaltung (164), die eine
Mehrzahl von variablen Verzögerungszeitelementen (71.1-71.K) enthält, die miteinander in Reihe verbunden sind, wobei jedes die Steuerspannung (Vco) zum Verzögern des an dem Ausgabeanschluss (5)
ausgegebenen Taktsignals (Φ) empfängt, um das verzögerte Taktsignal als das interne Taktsignal (Φ’) auszugeben, und
d) einer Erfassungsschaltung (165), die einen Betriebsparameter (Vco,
Ico) der spannungsgesteuerten Verzögerungsschaltung (164) erfasst
und eine Oszillationsfrequenz des Oszillators (1) basierend auf dem
Betriebsparameter (Vco, Ico) ermittelt.“
Den Patentansprüchen liegt die Aufgabe zugrunde, eine Testvorrichtung einer
Halbleitereinrichtung zum Messen einer Oszillationsfrequenz von einem Oszillator,
der in der Halbleitereinrichtung vorgesehen ist, zur Verfügung zu stellen (geltende
Beschreibung S. 2 Abs. 3f.).
Die Anmelderin macht geltend, dass mit den nunmehr geltenden Patentansprüchen 1 - 3 für den Fachmann eindeutig verständlich sei, was als patentfähig unter
Schutz gestellt sein soll.
II.
Die Beschwerde führt zur Aufhebung des angefochtenen Beschlusses und zur
Zurückverweisung der Sache an das Deutsche Patent- und Markenamt gemäß
1. Die Anmeldung betrifft eine Testvorrichtung einer Halbleitereinrichtung, mit
der die externe Messung der Frequenz des intern in der Halbleitereinrichtung
erzeugten Taktsignals ermöglicht wird.
Dazu wird das Taktsignal an einem Ausgang der Halbleitereinrichtung abgegriffen
und die Frequenz über drei alternative Frequenzmessvorrichtungen, die in den
nebengeordneten Ansprüchen beansprucht werden, bestimmt.
Bei der Vorrichtung gemäß Anspruch 1 wird der H- und L-Pegel des Taktsignals (Φ) mit einem Referenzpegel verglichen und die resultierenden Werte für den
H- und L-Pegel werden gespeichert, wobei die Taktung des Speichers im Verhältnis zur zu messenden Taktfrequenz mit wesentlich kleinerer Taktsignalperiode
erfolgt. Die Periode des Taktsignals wird dann durch Zählen der gespeicherten
Werte zwischen den Pegelübergängen jeweils von L zu H bestimmt (Fig. 1 und
23).
Alternativ wird die Taktperiode gemäß Anspruch 2 über einen PLL- (Fig. 1, 25 und
26) bzw. gemäß Anspruch 3 über einen DLL-Schaltkreis (Fig. 1, 27 und 28) ermittelt.
Als Fachmann für solche Testvorrichtungen wird ein Diplomingenieur für Elektrotechnik (FH) mit mehrjähriger Berufserfahrung im Bereich der Entwicklung digitaler
und analoger Schaltungen angesehen.
2. Der Zurückweisungsbeschluss wurde von der Prüfungsstelle mit Unklarheit
des damals geltenden Patentanspruchs 1 begründet. Es wurde aufgeführt, dass
die beanspruchten „Ausgabemittel“, „Vergleichsmittel“, „Speichermittel“, „Auslesemittel“ sowie die „Erfassungsmittel zum Erfassen des Änderungspunktes, bei dem
das Leseergebnis des Auslesemittels sich von dem ersten Signal zu dem zweiten
Signal ändert und zum Erfassen der Periode des Taktsignals von der Anzahl der
Abtastungen zwischen zwei Änderungspunkten“ auslegungsbedürftig seien und
der Anspruch in seiner Gesamtheit nicht mehr deutlich machen könne, was als
patentfähig unter Schutz gestellt werden solle.
Diese Unklarheiten sind nunmehr beseitigt.
Mit dem Beschwerdeschriftsatz wurden neue Patentansprüche 1 bis 3 eingereicht.
Im geltenden Anspruch 1 wurde nunmehr klargestellt, dass das „Ausgabemittel“
eine „Ausgabeschaltung zum externen Ausgeben des … Taktsignals (Φ) an einem
Ausgabeanschluss“ nach Merkmal a ist, das „Vergleichsmittel“ durch einen „Komparator“ nach Merkmal b realisiert wird, das „Speichermittel“ nach Merkmal c ein
„Speicher“ ist und dass die besagten Auslese- und Erfassungsmittel nach Merkmal d mit „einer Erfassungsschaltung, die das in dem Speicher gespeicherte
Signal aufeinanderfolgend ausliest, die Änderungsposition erfasst, bei der sich das
Leseergebnis von dem ersten Pegel (L) zu dem zweiten Pegel (H) ändert, und die
Periode des Taktsignals aus der Anzahl der Abtastungen zwischen zwei Änderungspositionen ermittelt“ realisiert werden.
Die Patentansprüche 2 und 3 wurden analog zum Anspruch 1 klargestellt.
Die im Vergleich zum ursprünglichen Anspruch 1 der Ausscheidungsanmeldung
geänderten Merkmale im geltenden Anspruch 1 basieren auf den Anmeldeunterlagen S. 12 Abs. 1 der Beschreibung i. V. m. Fig. 1, S. 42 Abs. 6 bis S. 43 Abs. 2
i. V. m. Fig. 23 und 24.
Die geänderten Merkmale im Patentanspruch 2 gegenüber der ursprünglichen
Fassung in der Ausscheidungsanmeldung sind aus der Beschreibung S. 12 Abs. 1
i. V. m. Fig. 1, S. 44 Abs. 2 i. V. m. Fig. 25 entnehmbar.
Die Merkmale des geltenden Anspruch 3 basieren auf dem ursprünglichen
Anspruch 3 der Ausscheidungsanmeldung und der Beschreibung S. 12 Abs. 1
i. V. m. Fig. 1, S. 45 Abs. 1 und 4 i. V. m. Fig. 27. Die ursprünglichen Ansprüche 1 - 3 der Ausscheidungsanmeldung entsprechen den Ansprüchen 16 - 18 der
Stammanmeldung.
Sie sind somit erfindungswesentlich offenbart.
Das Patentbegehren ist daher zulässig. Die Patentansprüche geben nunmehr verständlich an, was unter Schutz gestellt werden soll.
Damit ist der Grund für den Zurückweisungsbeschluss ausgeräumt.
3. Der im bisherigen Prüfungsverfahren genannte Stand der Technik wurde in
der Stammanmeldung in Bezug auf die dort weiterverfolgten Gegenstände ermittelt. Die dort genannten Druckschriften betreffen keine konkreten Testvorrichtungen zur Ermittlung einer Oszillationsfrequenz nach den nunmehr klargestellten
Ansprüchen 1 bis 3. Die mit der vorliegenden Ausscheidungsanmeldung weiterverfolgten Gegenstände sind zumindest hinsichtlich der Merkmale b bis d der geltenden Ansprüche ersichtlich noch nicht Gegenstand der inhaltlichen Prüfung des
bisherigen Prüfungsverfahrens in der Stamm- oder der vorliegenden Ausscheidungsanmeldung gewesen und damit im bisherigen Verfahren noch nicht recherchiert worden. Im Bescheid vom 12. August 1997 zur Stammanmeldung, auf den
im Zurückweisungsbeschluss Bezug genommen wird, findet sich jedenfalls kein
Anhaltspunkt dafür.
Demnach hat das Deutsche Patent- und Markenamt für die geltende Fassung der
Patentansprüche bisher nicht geprüft, ob die Voraussetzungen für die Erteilung
eines Patents erfüllt sind. Weil es damit noch nicht in der Sache selbst entschieden hat, war die Anmeldung - auch um der Anmelderin keine Tatsacheninstanz zu
nehmen - zurückzuverweisen.
III.
Die Rückzahlung der Beschwerdegebühr war gemäß § 80 Abs. 3 PatG anzuordnen. Danach ist die Rückzahlung anzuordnen, wenn dies der Billigkeit entspricht
(Busse, Patentgesetz, 6. Aufl., § 80 Rdnr. 95). Die Billigkeit der Rückzahlung kann
sich danach aus einer unangemessenen Sachbehandlung bzw. einem Verfahrensverstoß durch das Deutsche Patent- und Markenamt ergeben (Benkard, PatG,
Gemäß § 73 Abs. 3 Satz 1 PatG hat die Stelle, deren Beschluss angefochten wird,
einer Beschwerde abzuhelfen, wenn sie die Beschwerde für begründet erachtet.
Eine Beschwerde ist begründet, wenn unter Berücksichtigung des Beschwerdevorbringens der erlassene Beschluss nicht mehr aufrecht erhalten werden kann
(Busse § 73 Rdnr. 127; Schulte § 73 Rdnr. 100). Der Grund für den Erlass des
Beschlusses kann durch Erfüllung der Erfordernisse, deren Fehlen Grund für die
Zurückweisung war, beseitigt werden. Eine Abhilfe hat bei Beseitigung der Mängel
zu erfolgen (BGH GRUR 1985, 919 - Caprolactam -; BPatGE 27, 111; Busse § 73
Rdnr. 122, 127; Benkard § 73 Rdnr. 52).
Der Sinn des Abhilfeverfahrens besteht darin, Beschwerden vom Bundespatentgericht fernzuhalten, wenn die Korrekturbedürftigkeit des erlassenen Beschlusses
bei der Prüfung der Beschwerde vom Deutschen Patent- und Markenamt erkannt
wird (BPatGE 27, 157).
In ihrem Beschwerdeschriftsatz vom 9. Februar 2005 hat die Anmelderin gebeten,
der Beschwerde abzuhelfen. In diesem Schriftsatz ist sie detailliert auf alle Argumente der Prüfungsstelle eingegangen und hat neue Patentansprüche eingereicht.
Mit der Änderung der Patentansprüche 1 bis 3 hat sie alle von der Prüfungsstelle
in ihrem Beschluss gerügten Mängel beseitigt, so dass unter Berücksichtigung des
Beschwerdevorbringens der erlassene Beschluss nicht mehr aufrecht erhalten
werden konnte. Da ganz offensichtlich zumindest der im Beschluss genannte
Zurückweisungsgrund nicht mehr vorhanden war, hätte es einer sachgerechten
Verfahrensführung entsprochen, wenn die Prüfungsstelle der Beschwerde gemäß
§ 73 Abs. 3 Satz 1 PatG abgeholfen und das Prüfungsverfahren anschließend fortgesetzt hätte.
Die Entscheidung der Prüfungsstelle, der Beschwerde nicht abzuhelfen, war im
vorliegenden Fall somit unangemessen und stellt einen die Rückzahlung der
Beschwerdegebühr rechtfertigenden Verfahrensmangel dar.
Der Senat sieht deshalb die Rückzahlung der Beschwerdegebühr als gerechtfertigt an.
Dr. Fritsch
Prasch
Eder
Wickborn
Fa